| 雙晶線性陣列腐蝕探頭 檢測光滑表面和在空間極其狹小的區域進行檢測時擁有優化的近表面分辨率雙晶線性陣列探頭包含一組發射晶片和一組接收晶片，這兩組晶片被分別安裝在切有固定屋頂角的延遲塊的兩部分上。這種配置可以生成在被測工件表面以下聚焦的聲束，從而可大大降低表面反射的波幅。這種配置還可以提高近表面分辨率，得到對諸如點蝕、蠕變損傷和HIC（氫致裂紋）等危害性缺陷的更高的檢出率。 腐蝕檢測掃查方式 手動和手動編碼 盡管所有探頭組裝件在裝配了Mini-Wheel或VersaMOUSE掃查器時都可以用作獨立的編碼掃查設備，奧林巴斯的半自動和自動掃查器也可以完成真實2維編碼操作。 RexoFORM楔塊和VersaMOUSE掃查器可以進行單線編碼掃查，在使用整合型步進點擊按鈕時，還可以進行二維成像操作。 半自動 MapSCANNER是一種雙軸掃查器，經過優化，可以進行腐蝕成像操作。圖中顯示的是與HydroFORM掃查器裝配在一起的MapSCANNER掃查器 ChainSCANNER是一款用途廣泛的雙軸掃查器，可用于腐蝕成像和焊縫檢測。圖中顯示的是與HydroFORM掃查器裝配在一起的ChainSCANNER掃查器。 自動 HydroFORM掃查器可以與MapROVER掃查器一起使用，在管材的周向上進行檢測。 DLA腐蝕探頭在與MapROVER掃查器配套使用時，可用于進行自動檢測。 SFA1-AUTO楔塊系列可以與MapROVER掃查器一起使用，在管材的縱向上進行檢測。 MapROVER電動掃查器還可以使用雙晶常規UT探頭進行檢測。  () |
