掃描與透射電子顯微鏡的效果有什么不同？

1、1932年，魯斯卡發明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡（TEM）。電子束的波長遠短于可見光和紫外光，電子束的波長與發射電子束電壓的平方根成反比。也就是說，電壓越高，波長越短。目前TEM的分辨率可達0.2nm。它與成像原理基本相同，區別在于前者以電子束為光源，以電磁場為透鏡。此外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標本必須制成厚度約50nm的超薄切片。這種切片需要用（超薄切片機）制作。電子顯微鏡的放大倍數可達近百萬倍，由電子照明系統、電磁透鏡成像系統、記錄系統、電源系統五部分組成。 2.（掃描電子顯微鏡，SEM）于1960年代問世，用于觀察試樣的表面結構。其工作原理是用極細的電子束掃描樣品，激發樣品表面的二次電子。二次電子的數量與電子束的入射角有關，也就是說與樣品的表面結構有關。探測器被那里的閃爍體收集并轉換成光信號，再通過和放大器轉換成電信號，以控制熒光屏上電子束的強度，并顯示與電子束同步的掃描圖像。圖像為三維圖像，反映了試樣的表面結構。為了使試樣表面發射二次電子，在試樣固定脫水后，噴灑一層重金屬顆粒，重金屬在電子束的轟擊下發射二次電子信號。目前分辨率為6-10nm，人眼可以分辨熒光屏上相距0.2mm的兩個光點，因此*大有效放大倍數為0.2mm/10nm=20000X。 ?