1、電離干擾的消除和抑制：原子在火焰或等離子體的蒸氣相中電離而產(chǎn)生的干擾。它使火焰中分析元素的中性原子數(shù)減少，因而降低分析信號。在標準和分析試樣中加入過量的易電離元素，使火焰或等離子體中的自由電子濃度穩(wěn)定在相當(dāng)高的水平上，從而抑制或消除分析元素的電離。此外，由于溫度愈高，電離度愈大，因此，降低溫度也可減少電離干擾。
　　2、試劑酸度對ICP-AES法的干擾效應(yīng)主要表現(xiàn)在哪些方面？直讀光譜儀
　　溶液的酸度主要影響提升率和霧化效率，在酸性介質(zhì)中大部分元素的譜線強度均低于水溶液；隨著酸度增加，譜線強度顯著降低；各種無機酸的影響并不相同，按下列順序遞增：HCl HNO3 HClO4 H3PO4 H2SO4；譜線強度的變化與提升率的變化成正比例。所以在ICP測試中，應(yīng)盡量的避免使用H3PO4 H2SO4作為介質(zhì)。條件允許的情況下，盡量的用鹽酸或硝酸作為介質(zhì)。直讀光譜儀
　　3、ICP-AES法中的光譜干擾主要存在的類型：
　　①譜線干擾，見的是稀土分析，尤其是稀土純度分析，譜線干擾是相當(dāng)?shù)膰乐兀瑢τ谧V線干擾，我們一般是選擇更換譜線，由于全譜ICP光譜儀在選擇譜線上的忌口 限性，對于稀土純度分析，一般用順序掃描型的儀器比較好。譜帶系對分析譜線的干擾，一般也是換譜線。
　　②連續(xù)背景對分析譜線的干擾，見的礦物質(zhì)分析，基體比較復(fù)雜，雖然譜線不多，但是連續(xù)背景很強，這時候，一般是的儀器都帶有扣背景的功能，用這個功能可以消除。
　　③基體干擾，嚴格來說，基體干擾是物理干擾而不是光譜干擾。常見比較復(fù)雜的樣品，部分金屬的純度分析等，基體干把有很多種影響方式，最重要的是影響提升率和霧化效率。消除基體干擾的方法很簡單，就是基體匹配法或標準加入法，在樣品比較多的的時候，大部分采取基體匹配法。
　　④抑制干擾，其實是基體干擾的一種，某種基體的存在，可能影響了待測元素的激發(fā)，有時候是抑制，但個別時候也會增強待測元素的強度，不管是減弱還是增強都不是我們所需要的，消除這種干擾的方法也是基體匹配或標準加入法。
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