MTB F 計算方法概論
MTBF: Mean Time Between Failure
1. 意義:可修復(fù)之產(chǎn)品~兩次相鄰故障的平均工作時間,
是一種可靠度之統(tǒng)計數(shù)值.通常均以小時為計算單位.
2. 通常以小時為單位. EX. 100,000 hours.
3. 若為故障而不可修復(fù)之產(chǎn)品,則不適用MTBF之計算.
但可計算其MTTR (Mean Time To Repair). 稱之為:
平均維修時間.
4. 若為產(chǎn)品在正常環(huán)境及條件下,連續(xù)性測試從一而終,
所計算之時間為:壽命試驗(Life Cycle)
1.1加速壽命試驗 (Accelerated Life Testing)
1.1.1 執(zhí)行壽命試驗的目的在於評估產(chǎn)品在既定環(huán)境下之使 用壽命.
1.1.2 常規(guī)試驗耗時較久,且需投入大量的金錢,而產(chǎn)品可靠度 資訊又不能及時獲得並加以改善.
1.1.3 可在實驗室裡以加速壽命試驗的方法,在可接受的試驗 時間裡評估產(chǎn)品的使用壽命.
1.1.4 是在物理與時間上,加速產(chǎn)品的劣化肇因,以較短的時間 試驗來推定產(chǎn)品在正常使用狀態(tài)的壽命或失效率.但基 本條件是不能破壞原有設(shè)計特性.
1.1.5 一般情況下, 加速壽命試驗考慮的三個要素是環(huán)境應(yīng)
力,試驗樣本數(shù)和試驗時間.
1.1.6 一般電子和資訊業(yè)的零件可靠度模式及加速模式幾乎
都可以從美軍規(guī)範或相關(guān)文獻查得,也可自行試驗分析,
獲得其數(shù)學(xué)經(jīng)驗公式.
1.1.7 如果溫度是產(chǎn)品的加速因素,則可採用阿氏模型
(Arrhenius Model),此模式常用.
1.1.8 引進溫度以外的應(yīng)力,如濕度,電壓,機械應(yīng)力等,則為
愛玲模型(Eyring Model).產(chǎn)品包括電燈,液晶顯示元件,
電容器等適用此模式.
1.1.9 反乘冪法則(Inverse Power Law)適用於金屬和非金
屬材料,軸承和電子裝備等.
1.1.10.復(fù)合模式(Combination Model)適用於同時考慮溫度
與電壓作為環(huán)境應(yīng)力的電子材料,如電容.
1.1.11.一般情況下,主動電子零件適用阿氏模型,而電子
和資訊類成品也可適用阿氏模型,原因是成品類的失效
模式是由大部分主動式電子零件所構(gòu)成.因此,阿氏模 型,廣泛應(yīng)用於電子﹑資訊行業(yè).
測試原理：
活化能是分子與化學(xué)或物理作用中需具備的能量,單位是電子伏特Ev. 當試驗的溫度與使用溫度差距範圍不大時,則Ea可設(shè)為常數(shù).
Ea= K* (Inλa – Inλn)/(1/Tn-1/Ta)
λa為加速溫度時的失效率
λn為正常溫度時的失效率
Tn, Ta均為溫度0K
λa和λn可以以試驗的方式的得出,但需要較長的試驗時間.而且新機種的失效率很難在短時間內(nèi)得出.
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