加速試驗 :Acceleraring test Acceleraring test
對電子零件等的壽命或故障率,為了于短時間內(nèi)完成預(yù)測,在物理方面、時間方面使劣化原因加速而進行的試驗。加速包括:使間歇的條件不斷反復(fù)以加速的場合、及施以嚴酷的應(yīng)力使對強制劣的場合兩種。具體的試驗方面有:熱沖擊、高溫加熱、擴動、耐候試驗等。
Accelerated(Aging) Test Accelerated(Aging) Test
加速試驗,加速老化 也就是加速老化試驗(Aging)。如板子表面的熔錫、噴钖或為滾錫制程等,對板子焊錫性到底能維持多久,可用高溫高濕的加速試驗,模擬當板子老化后,其焊錫性劣化的情形如何,可用以決定其質(zhì)量.的允收與否。
此種人工加速老化之試驗,又稱為環(huán)境試驗,目的在看看完工的電路板(已有綠漆)其耐候性的表現(xiàn)如何。新式的"電路板焊錫性規(guī)范"中(ANSl/J-STD-003,電路板雜志57期或95手冊有全文翻譯)已有新的要求,即PCB在焊錫性【Solderability】試驗之前,還須*行8小時的"蒸氣老化"(Steam Aging),亦屬此類試驗。