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關于X熒光光譜儀在檢測均質材料時的規定——創想儀器(GLMY)

2026年05月18日 11:12:24      來源:無錫創想分析儀器有限公司 >> 進入該公司展臺      閱讀量:7

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使用X熒光光譜儀檢測均質材料是確保X熒光光譜儀檢測結果的精確度的必須過程,也是精確檢測被測樣品的必要步驟。那事實上有些人對于“均質材料”的確認還不是很熟悉,下面光譜儀廠家——創想儀器(GLMY)小編就為大家解釋一下。

一般情況下,對于原材料,如聚合物材料(未經表面處理)、金屬材料(未經表面處理)、輔材(焊錫、助焊劑、粘合劑、墨水、涂料)等,均視為均質材料,可以直接提交檢測。經表面處理的材料的拆分可以咨詢CEST專業技術人員。

注意特殊規定:

① 表面涂層、表面鍍層的規定:表面處理層應盡量與本體分離(如涂層);對于確實無法分離的(如鍍層),可對表面處理層進行初篩(如使用X 射線熒光光譜儀(XRF)等手段),篩選合格則不拆分;篩選不合格,可使用非機械方法分離(如使用能溶解表面處理層而不能溶解本體材料的化溶液學溶解提取)。

② 體積特殊規定:當拆分對象難以進一步拆分且體積≤1.2mm3 時,不必拆分,可以整體制樣(如:0805類貼片類元件2.0×1.2×0.5mm的元件不必拆分)作為非均質檢測單元,直接提交檢測。

③ 有關重量的特殊規定:當拆分對象難以進一步拆分且重量≤10mg 時,不必拆分,作為非均質檢測單元,直接提交檢測。

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X熒光光譜儀


創想儀器GLMY,專注于分析檢測儀器的研究開發銷售,目前有臺式X熒光光譜分析儀可供大家選擇,歡迎。以上就是這次為大家帶來的關于均質材料的確認問題,以實例講解了。希望對大家有所幫助。

無錫創想分析儀器有限公司

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