納米顆粒粒度儀IG-1000特點

    對于納米顆粒的測量，常規方法采用動態光散射方法，但對于小于100納米的粒子，光將被分散，強度急驟減弱。此外，在單納米粒度區域（例如，粒度小于10納米），物理限制使得很難探測到散射光，因此粒度的測量也會變得困難。IG方法不使用散射光，所以它不受物理限制，并且它不需要輸入折射率作為測量條件。因此它使得納米粒子的測量變得簡易，并具有高靈敏度，尤其是對單納米顆粒粒子分析非常有效。
單納米粒子的高靈敏度分析
        誘導光柵技術使用粒子形成的衍射光柵發射出的衍射光，而不是粒子發射出散射光，因此，即便在單一納米顆粒區域，也可獲得充足的信噪比，重復性好，測量穩定。
耐污染
        新的測量原理耐受污染，即使樣品混雜了少量異物，要分析的微粒信息也應可靠有效。這意味著以去除粗顆粒為目的樣品過濾是不需要的。
高重現性
        穩定的數據。特別是粒度小于10 nm的微粒具有高重復性，避免了單納米顆粒區域內顆粒分析的不確定性和模糊性。同時，可利用衍射光的原始數據進行測量間的比較，藉此可輕松的驗證測量結果。