日本** LCR測試儀3535為100kHz~120MHz的寬頻量程且價位低。具有6ms高速測定的內(nèi)置比較器和負載補償、BIN(分類)測量功能，應(yīng)用范圍廣，例如芯片互感、高速磁頭測試以及其他相關(guān)研發(fā)需求。可將前置放大器與3535拆離，使用電纜將其延伸，并盡可能接近被測物，以減小測量導(dǎo)線的影響。簡易的操作和低廉的價格，賦予這些元器件測試儀器出眾的性價比。無論是用于實驗室評估運行特性，還是用于生產(chǎn)線，都是您的理想選擇。
寬頻測量范圍
  測量頻率100kHz~120MHz，以4位分辨率進行設(shè)置。
zui快6ms高速測量
  4種采樣速度可供選擇:FAST/NORMAL/SLOW/SLOW2。zui快約為6ms(顯示|Z|時)，為提高生產(chǎn)線效率提供快速采樣。(測量頻率視測量參數(shù)的不同而不同)。
14種測量參數(shù)
  可測量以下參數(shù)，也可使用計算機捕捉必要的參數(shù)。|Z|，|Y|，θ，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，Lp，Ls，Cp，Cs，D(tanδ)和Q。
測量的同時進行測量條件的調(diào)整
  測量頻率、信號電平等測量條件，可在監(jiān)視測量值的同時進行更改，所以可有效發(fā)揮于事前測量、評估標準等設(shè)置。
測量值的存儲
  主機可存儲200組測量值。保存數(shù)據(jù)可一次傳輸?shù)接嬎銠C或打印出來。
放大顯示功能
  zui多4組參數(shù)可放大顯示，便于生產(chǎn)線或其它距顯示有一定距離的情況下觀察測量值。
打印輸出
  使用選件9442打印機，測量值、比較結(jié)果和屏幕數(shù)據(jù)可打印輸出。
BIN(分類)測量
  2種測量zui多使用10組分類，利用測量值可以很容易地進行分類。
連續(xù)測量
  可存儲30組測量條件。從中zui大可連續(xù)測量保存于屏幕的5組測量條件。使用比較器功能時，使用1臺、并通過一系列的操作，可獲得這些條件的AND輸出。
負載補償功能
  測量用于基準參考的樣品，可補償測量值。用此功能可調(diào)和各儀器間的測量值。
存儲30組測量條件
  利用可存儲30組包括比較值在內(nèi)的測量條件的功能，為隨時更換的樣品檢測的反復(fù)測量生產(chǎn)線，提供快速響應(yīng)。
同時測量4種參數(shù)
  可選擇任何4種參數(shù)同時測量并顯示。
相關(guān)補償功能
  可設(shè)置以下補償系數(shù)a和b，達到對測量值的補償。補償值=a×測量值+b

日本** LCR測試儀3535測試|Z|, L, C, R
測試源頻率100kHz～120MHz
高速測量: 6ms
拆卸式前置放大器可選擇
為比較標準元件提供補償?shù)?ldquo;負載補償功能
 

日本**3535LCR測試儀通過I/O接口可從外部控制觸發(fā)、鍵盤鎖開/關(guān)、以及測量條件的裝載。而且比較結(jié)果、測量完成等可以輸出，可應(yīng)用于自動化生產(chǎn)線。
 

日本**LCR測試儀* 3535標準配置了RS-232C和GP-IB接口，除了電源ON/OFF以外，其它功能都可以由計算機來實現(xiàn)控制。
RS-232C接口:
傳輸方式: 通信方式: 全雙工，同期方式: 啟停式傳輸
傳輸速度: 9,600、19,200bps數(shù)據(jù)長度: 8位
奇偶特性: 無
停止位: 1位
符號: CR+LF、CR
跟蹤控制: 無
連接方法: D-sub9pin插入式、反向連接
LCR測試儀3535 GP-IB接口:
標準規(guī)格: IEEE-488.1 1987
可使用IEEE-488.2 1987的共同指令
 

日本** 3535LCR測試儀技術(shù)參數(shù)：

日本*LCR測試儀* 3535選件：
9700-10 前置放大單元：測量范圍: 100mΩ～300kΩ
9677 SMD測試冶具：側(cè)面SMD 電極;工作頻率: DC～120MHz,測量對象尺寸: 3.5±0.5mm, 與3535組合使用時，無CE標記
9699 SMD測試冶具：底部SMD電極,工作頻率: DC～120MHz,測量對象尺寸: 寬1.0～4.0mm, 高1.5mm以下
9678 連接電纜:電纜長: 2m
9151-02 GP-IB連接電纜:2m 長

日本** LCR測試儀3535產(chǎn)品圖片