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一、快速溫變試驗(yàn)箱 芯片測試設(shè)備用途:
快速溫變試驗(yàn)箱可以準(zhǔn)確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕復(fù)雜的自然狀環(huán)境，適用于塑膠、電子、食品、服裝、車輛、金屬、化學(xué)、建材等多種行業(yè)的產(chǎn)品可靠性檢測。

二、快速溫變試驗(yàn)箱 芯片測試箱設(shè)備特點(diǎn)
     造型設(shè)計(jì)：圓弧造型及表面噴涂處理，高質(zhì)感外觀，并采用平面無反作用把手，操作容易，安全可靠。
    大型觀察窗視野寬廣明亮：采用三層真空鍍膜視窗和飛利浦節(jié)能熒光燈，無須雨刷除霧，保持清晰的觀測效果，  可隨時(shí)觀察試品的狀況。
   水電分離確保安全：加濕系統(tǒng)管路與 電源、控制器、電路板分離，可避免因管路漏水而影響電路，提高安全性。
  冷凍及控制系統(tǒng)可靠：歐美全封閉壓縮機(jī)，進(jìn)口環(huán)保冷媒，LCD觸摸屏控制器，界面友好，操作簡單易學(xué)。