產品簡介
icp-ms檢測儀質譜儀
為所有常用的的半導體應用設置了內置式調諧和方法模板，包括碰撞反應池模式以及冷等離子體模式，以確保獲得質量的數據和低的背景等效濃度。
為所有常見的半導體樣品類型提供標準的操作規程，簡化方法建立的
詳情介紹
icp-ms檢測儀質譜儀
- 配置新的第三代ORS3碰撞反應池系統，增強了氦模式的性能，消除干擾的能力比以前更好。
- 如去離子水、過氧化物，等材料中的Li、Na、K、Ca檢測提供行業標準方法。
- 為所有常用的的半導體應用設置了內置式調諧和方法模板，包括碰撞反應池模式以及冷等離子體模式，以確保獲得質量的數據和低的背景等效濃度（BECs）。
- 為所有常見的半導體樣品類型提供標準的操作規程，簡化方法建立的過程
- 較低的熱量輸出和降低排氣量，重新設計了冷卻空氣流路系統—這對超凈室安裝的儀器尤為重要。
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| 7700s為是為半導體行業純材料分析而設計的超凈化系統，針對的是 ppt 級半導體行業超痕量元素。7700s額外配置有效的樣品引入系統，五路ICP離子源氣路管線和兩路碰撞/反應池氣體管線（ORS3）的反應性氣體管路是7700s的標準配置） 7700s保留和升級了的STS冷等離子體能力，為純材料中極易電離的目標元素的測定提供了行業中的性能，并且STS冷等離子體仍是業內的，可以用同一條件同時分析半導體行業要求的多種目標元素的技術。 | |
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