法國Phasics--高分辨率波前分析儀/波前傳感器/剪切干涉儀
法國PHASICS公司自主研發的波前傳感器、波前分析儀、波前探測器是基于四波橫向剪切干涉技術。SID4系列波前分析儀相較傳統的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態檢測范圍、操作簡便等的優勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案！
法國PHASICS公司自主研發的波前傳感器、波前分析儀、波前探測器是基于四波橫向剪切干涉技術，對哈特曼掩模技術進行了大的升級、改進。PHASICS波前傳感器將400X300的超高分辨率和500um的超大動態范圍結合在了一起。可以滿足不同的客戶的應用需求，可對激光光束進行光強、位相、PSF（點擴散函數）、MTF（調制傳遞函數）、OTF（光學傳遞函數）、波前像差、M2等進行實時、簡便、快速的測量。
PHASICS波前傳感器、波前分析儀、波前探測器--技術優勢：
高分辨率的相位圖，分辨率可達400ｘ300。
具有直接測量高發散光束的能力
消色差，匹配CCD整個探測范圍，用于不同波長光而無需額外校準。
PHASICS波前傳感器、波前分析儀、波前探測器--應用方向：
激光束質量分析
自適應光學
光學元件表面測量
生物成像
熱成像，等離子體表面物理
法國PHASICS波前傳感器、波前分析儀、波前探測器主要型號相關參數：
SID4 UV HR | SID4 Visible | SID4 Visible HR | SID4 NIR | SID4 SWIR | SID4 IR MCT | SID4 DWIR | SID4 LWIR | |
波長 | 190 – 400 nm | 400 – 1100 nm | 400 – 1100 nm | 1,5 – 1,6 µm | 0,4 – 1,7 µm | 1,2 – 5,5 µm | 3 – 5 µm and | 8 – 14 µm |
孔徑 | 8.0 × 8.0 mm2 | 3.6 × 4.8 mm2 | 8.9 × 11.8 mm2 | 3.6 × 4.8 mm2 | 9.6 × 7.68 mm2 | 9.60 x 7.68 mm2 | 10.08 ×8.16mm2 | 16 x 12 mm2 |
空間分辨率 | 32 µm | 29,6 µm | 29,6 µm | 29,6 µm | 60 µm | 60 µm | 68 µm | 100 µm |
采樣點 | 250 x 250 | 160 x 120 | 300 x 400 | 160 x 120 | 160 x 128 | 160 x 128 | 160 x 120 | 160 x 120 |
精度 (精度) | 10 nm RMS | 10 nm RMS | 15 nm RMS | 15 nm RMS | 15 nm RMS | 75 nm RMS | 75 nm RMS | 75 nm RMS |
分辨率（靈敏度） | 0,5 nm RMS | < 2 nm RMS | < 2 nm RMS | < 11 nm RMS | < 2 nm RMS | < 3 nm RMS | 25 nm RMS | 25 nm RMS |
動態范圍 | > 200 µm | > 100 µm | > 500 µm | > 100 µm | > 100 µm | 300 µm | > 100 µm | > 100 µm |
采樣頻率 | 30 fps | > 100 fps | > 30 fps | 60 fps | 120 fps | 140 fps | > 50 fps | 40 fps |
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