SANTEC 旗艦版高性能可調諧激光器 >10mw TSL-770 1490-1630nm
TSL-770 凝聚了 Santec 三十多年的業經驗和知識，是一款操作靈活且適合廣泛應用的高規格的可調諧激光器。重新設計的激光腔體與超低噪聲的電路基板相結合，可在 同一激光器中實現市場先的掃描速度、高輸出功率、寬 調諧范圍、低噪聲以及窄線寬。
特點
寬的可調諧范圍：1480-1640nm
全波段無跳模波長連續可調
高速：高達 200nm/s 的波長掃描
高輸出功率：+13dBm
高信噪比：90dB/0.1nm
高波長精度：0.3pm ( 典型值 )
窄線寬：<60kHz
應用
光學元件 & 光子材料表征
光纖傳輸測試( 載波 LD、本地振蕩器等 )
干涉測量、光譜學、計量學( OFDR、氣體傳感器、太赫茲生成等 )
技術 & 典型性能
一,寬調諧范圍
TSL-770 采用 Littman-Metcalf 配置以實現 160nm 范圍的無跳模調諧。
驅動機構堅固耐用，可確保長期使用的性能，并且被隔離開來以消除激光器中的聲學和機械噪聲
二,高信噪比、高功率
采用創新的外腔設計，以降低光學 SSE 噪聲，實現擁有90dB/0.1nm 的超高信噪比的同時 , 依然能夠保持高達
+13dBm 的高功率輸出。TSL-770 是下一代高動態范圍濾波器和波長選擇開關 (WSS) 組件測試的理想選擇。
三,內置高性能波長計
TSL-770 內置有波長精度為 +/-2 pm 高精度波長計，并可在連續掃描模式下存儲（記錄）波長數據。
四,窄線寬和低抖動
通過將光學腔與機械振動分離，使激光腔中的 Q 值得以大化。這使得 TSL-770 具有超窄激光線寬和市場先的波長穩定性。
五,快速掃描技術
Santec 的光學機械設計可實現高達 200nm/s 的快速掃描， 且具有高精度和高重復性。加速和減速的周期被小化，以進一步減少重復掃描的測量時間。
規格
| 種類 | 項目參數 | 單位 | 性能 | ||
|
波長特性 | 波長調諧范圍 | nm | SCL-band: 1480 - 1640 (160 nm) | CL-band: 1490 - 1630 (140 nm) | |
| 波長分辨率 | pm | 0.1 | |||
| 精度 *1 | 工作溫度 | pm | ± 1.5 | ||
| 25±1 ºC (typ.) | pm | ± 0.5 | |||
| 重䐾性 *1 | pm | ± 0.5 (± 0.2 (typ.)) | |||
| 穩定性 *2 | pm | < ± 0.5 (24 hours) | |||
| 掃描速度 | nm/s | 0.5 to 200 | |||
| 精細調諧范圍 | GHz | ≥ 10 | |||
|
輸出功率特性 |
輸出功率 *8 | 峰值（典型值） | dBm | ≥ 13 | ≥ 13 |
| > 10 dBm 范圍 | dBm | ≥ 10 (1500 - 1630 nm) | ≥ 10 (1500 - 1630 nm) | ||
| 全波長調諧范圍 | dBm | ≥ 7 | ≥ 8 | ||
| 功率重䐾性 *1， *3 | dB | ± 0.01 (± 0.002(typ.)) | |||
| 功率穩定性 *2 | dB | ± 0.01 (1 hour), (( ± 0.02 (24 hours, typ.)) | |||
| 輸出平坦度和波長比 *1, *3, *8 | dB | ± 0.2 ( ± 0.05 (typ.)) | |||
| 相對強度噪聲（典型值）*4 | dB/Hz | -145 (1 MHz to 3 GHz) | |||
|
光譜 | 線寬（典型值） | 相干控制關 | kHz | 60 | |
| 相干控制開 | MHz | 40 | |||
| SMSR（典型值） | dB | ≥ 50 | |||
| STSSER *5 | dB | ≥ 70 | |||
| STSSER *6 | dB/nm | ≥ 80 (≥ 90 dB/0.1 nm) | |||
|
接口 | 光輸出端口 | - | FC or SC, SPC or APC | ||
| 光纖 | - | PMF *7 | |||
| 通信 | - | GP-IB (IEEE 488.2), USB, Ethernet | |||
| 調制 | 低頻調制 | kHz | DC to 400 (typ.) | ||
| 高頻調制（可選） | MHz | 2 to 100 (typ.) | |||
|
環境條件及其他 | 工作環境 | 溫度 | ºC | 15 to 35 | |
| 濕度 | % | < 80 (non-condensing) | |||
| 電源 | - | AC 100 - 240 V (±10 %), 50/60 Hz | |||
| 額定功率 | VA | 100 | |||
| 尺寸 (W) x (D) x (H) *9 | mm | 440 x 416 x 133 | |||
| 重量 | kg | 16 | |||
* 所有的規格參數測量均需要 1 個小時以上的設備預熱。規格適用于水吸收波長范圍以外的波長。
*1: 在靜態狀態或步進掃描模式下。
*2: 在溫度變化 ± 0.5℃以內。
*3: 使用 “Auto” 功率模式。
*4: 使用大輸出功率。
*5: STSSER 信號波長 ±15nm 范圍內的全自發輻射光輸出的比 ( 典型值 )。
*6: SSSER 信號除去中心波長 ±1nm 的范圍，中心波長輸出和其 ±3nm 的范圍內的自發輻射光輸出大值的比 ( 典型值 )。
*7: 偏振軸與連接器對齊。偏振消光比為 17 dB ( 典型值 )。
*8: 指標保證范圍從起始到 1630nm。
*9: 突出部分除外。
TSL-770 內置一個功率監視器，可用于實時補償輸出功率的波動 , 無需使用光功率參照，這樣減少了測試系統中所需功率計的數量。TSL-770 與 Santec 的功率計 MPM-210H、偏振控制器PCU-110 搭配，可為用戶提供一個 WDL 或 PDL 測試的完整的解決方案。Santec 提供整套系統的控制軟件以及動態鏈接庫 (DLL)，并支持使用各種編程語言進行系統集成和控制。
更新時間：2023/5/24 17:35:35
所有評論僅代表網友意見，與本站立場無關。