日本KETT渦流膜厚儀LH-200J
| 型號 | LH-200J | |
| 測量方式 | 渦流類型 | |
| 測量目標 | 非磁性金屬上的絕緣涂層 | |
| 測量范圍 | 0-800µm或32.00mils | |
| 測量精度 | 小于50μm | ±1微米 |
| 50μm以上 | ±2％ | |
| 解像度 | 小于100μm | 0.1微米 |
| 100μm以上 | 1.0微米 | |
| 符合標準 | JIS K5600-1-7，JIS H8680-2，JIS H8501 ISO2808，ISO2360，ISO2064，ISO19840 BS3900-C5，ASTM D7091-5 | |
| 統計功能 | 測量數量，平均值， 大/小標準偏差，程序段號 | |
| 探針 | 一點接觸恒壓型（LHP-J） | |
| 顯示方式 | 數字（LCD，小顯示數字為0.1µm） | |
| 外部輸出 | RS-232C接口（傳輸速度2400bps） | |
| 電源供應 | 100 V AC（50/60 Hz）或 1.5 V電池（AA堿性）x 6打印機x 4 | |
| 尺寸圖 | 120mm（寬）×250mm（深）×55mm（高） | |
| 彌撒 | 1.0公斤 | |
| 配件類 | 標準板，鋁基板，標準板盒 電池1.5V（AA堿性），探頭適配器 交流適配器，打印機紙，手提箱 | |
日本KETT渦流膜厚儀LH-200J
■規格型號LH-200J測量方法渦流法測量非磁性金屬上的目標絕緣膜測量范圍0至800µm或32.00mils測量精度小于50µm±1µm 50µm ...
0R規格型號LH-373測量方法渦流法測量目標非磁性金屬上的絕緣涂層測量范圍0至1200 µm或47.0 mils測量精度小于50 µm±1 µm 50 µm以上且小于1000 µm±2％1000 µm以上±3％分辨率小于100 µm 0.1微米...
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