XD2/3型多晶X射線衍射儀用于晶體物質結構定性定量分析。該產品設計精密，硬件、軟件功能齊全，靈活適應各種物質微觀結構的測試、分析和研究，其技術水平已達到國內水平。產品采用了θ-θ測角儀立式、中空軸、射線管座與測角臺1體化的結構，可對粉末、大塊不規則固體、液體樣品進行測試。
結構新，采用的立式測角儀結構，更加方便的樣品放置方式，對于操作、維護的工作力度大為簡化，更加直觀的使用，便于清理實驗后的樣品臺。
采用細分驅動電源技術，精度高，重現性達到0.0006°、測量重復性0.001°、zui小步進角度0.0005°；
進口NaI閃爍晶體計數探測器，分辨率及使用穩定性好；
X射線管套采用整體銅棒材加工定位精度、射線防護性更好；采用了轉輪式快門，開關速度更快，故障率更低，射線阻斷性更好，機柜外輻射劑量低于0.2μSv/h（國標規定要求低于2.5μSv/h）；
X射線光源的數字控制電路作了進1步的改善，X光機的工作功率由計算機遙控設定。高壓與管流的加載過程受微電腦控制自動操作，使用更加簡單，運行更加可靠；
中文視窗操作界面，全新改版的PDP衍射數據處理軟件包。在數據輸出多樣性方面作了重大改進。
配置名稱 | XD2/3 | |
X射線管 （Cu靶國產） | 種類 | Cu靶，NF型（其它靶材可選） |
功率 | 2.0kW | |
焦點 | 1.0×10mm2 | |
X射線發生器 | zui大輸出 | 4KW |
X光管電壓 | 15~60kV，1kV /Step | |
X光管電流 | 6~80mA，1mA /Step | |
管電壓、管電流穩定度 | ≤0.01％（電源低壓浮動10％） | |
測角儀 | 測角儀結構 | θs-2θd(XD2) θs-θd(XD3) |
測角儀掃描半徑 | 180mm | |
掃描角度范圍 | -30~80°（θs） -30～160°（θd） | |
工作方式 | 連續掃描、定時步進掃描、定數步進掃描 | |
連續掃描速度 | 0.125～120°/min | |
zui高轉速 | 120°/min | |
2θ角重復精度 | ≤0.0006° | |
zui小步進角度 | 0.0005° | |
測量準確度 | ≤0.001° | |
發散狹縫（DS） | 1/6°、1/2°、1°、2° | |
防散射狹縫(SS) | 1/2°、1°、2° | |
接收狹縫(RS) | 0.1，0.15，0.3，0.45，0.6，1，2mm | |
調整狹縫 | 0.02mm | |
檢測器 計數器 | 晶體類型 | NaI |
脈沖幅度分析器（HV/PHA） | 輸出高壓0～1000V，穩定性≤0.01％（8h） | |
機柜 | 機柜尺寸（mm） | 1200（長）×400（寬）×1850（高） |
整機重量（kg） | 500 | |
觀察窗（mm） | 600（高）×400（寬）×10（厚）鉛玻璃 | |
X射線泄露量 | ≤0.1μSv/h（未扣除天然本底） | |
安全措施 | 門聯鎖保護（門到位置，光閘才打開，產生X射線） | |
濾波器 | Ni濾片 | 對應Cu靶 |
石墨彎晶單色器 | 反射效率η≥28％ | |
綜合指標 | 整機綜合穩定度 | ≤0.3％ |
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