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全自動納米粉體材料比表面積儀總體概述:比表面積儀V-Sorb 2800是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動智能化比表面積和孔徑檢測儀器,采用靜態(tài)容量法測量原理,眾多科研院所及500強企業(yè)應(yīng)用案例,相比國內(nèi)同類產(chǎn)品,金埃譜比表面積儀多項技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善,金埃譜比表面積儀測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和性進一步提高,金埃譜比表面積儀測試過程的穩(wěn)定性更強,金埃譜比表面積儀達(dá)到同類產(chǎn)品水平,部分功能超越國外產(chǎn)品.

金埃譜科技是早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機構(gòu),測試結(jié)果與國外數(shù)據(jù)可比性平行性,并獲取認(rèn)證機構(gòu)的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內(nèi)同行業(yè)中注冊資本規(guī)模zui大,通過*的企業(yè),雄厚實力和完善的質(zhì)量及服務(wù)體系,讓您選購的產(chǎn)品無后顧之憂!

全自動納米粉體材料比表面積儀性能指標(biāo)參數(shù)

測試方法及功能:氮吸附真空容量法（真空靜態(tài)法）,吸附及脫附等溫線測定,BJH總孔體積及孔徑分布分析,樣品真密度測定,t-plot圖法微孔分析,MP法微孔分析,BET法比表面積測定（單點及多點）,Langmuir法比表面積測定,平均粒徑估算,t－plot圖法外比表面積測定;

測定范圍:0.01（㎡/g）--至無上限（比表面積）,0.35nm-400nm（孔徑）;

測量精度:重復(fù)性誤差小于1.5%;

真空系統(tǒng):V-Sorb的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高孔徑分布測定的分辨率;同時集裝式管路減少了連接點,大大提高密封性和儀器使用壽命;

液位控制:V-Sorb的液氮面控制系統(tǒng),確保測試全程液氮面相對樣品管位置保持不變,*消除因死體積變化引入的測量誤差;

控制系統(tǒng):采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和抗力,提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命;

樣品數(shù)量:同時進行2個樣品分析和2個樣品脫氣處理;

壓力測量:采用壓力傳感器測量壓力,顯著提高 P/Po點的測試精度,0-1000Torr（0-133Kpa）;

壓力精度:進口硅薄膜壓力傳感器,精度達(dá)實際讀數(shù)的0.15％,優(yōu)于全量程的0.15％,遠(yuǎn)高于皮拉尼電阻真空計精度（一般誤差為10%-15％）;

分壓范圍:P/Po 準(zhǔn)確可控范圍達(dá)5x10－6－0.995;

極限真空:4x10－2Pa（3x10－4Torr）;

樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等;

測試氣體:高純N2氣（99.999%）或其它（按需選擇如Ar,Kr）;

數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,抗力強;

數(shù)據(jù)處理:Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報表.

全自動比表面積儀應(yīng)用領(lǐng)域:吸附劑（如活性碳,硅膠,活性氧化鋁,分子篩,活性炭,硅酸鈣,海泡石,沸石等）;陶瓷原材料（如氧化鋁,氧化鋯,硅酸鹽,氮化鋁,二氧化硅,氧化釔,氮化硅,石英,碳化硅等）;橡塑材料補強劑（如炭黑,白碳黑,納米碳酸鈣,碳黑,白炭黑等）;電池材料（如鈷酸鋰,錳酸鋰,石墨,鎳鈷酸鋰,氧化鈷,磷酸鐵鋰,鈦酸鋰,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物電池材料,堿錳材料,鋰離子材料,鋰錳材料,堿性材料,鋅錳材料,石英粉,鎂錳材料,碳性材料,鋅空材料,鋅汞材料,乙炔黑,鎳氫材料,鎳鎘材料,隔膜,活性物資,添加劑,導(dǎo)電劑,緩蝕劑,錳粉,電解二氧化錳,石墨粉,氫氧化亞鎳,泡沫鎳,改性石墨材料,正極活性物質(zhì),負(fù)極活性物質(zhì),鋅粉等）;金屬氧化物（如氧化鋅,氧化鈣,氧化鈉,氧化鎂,氧化鋇,氧化鐵,氧化銅等）;磁性粉末材料（如四氧化三鐵,鐵氧體,氧化亞鐵等）;納米金屬材料（如納米銀粉,鐵粉,銅粉,鎢粉,鎳粉,鋁粉,鈷粉等）;環(huán)保行業(yè)（如顏填料,柱填料,無機顏料,碳酸鈣,氧化硅,礦物粉,沉積物,懸浮物等）;無機粉體材料（如氧化鈦,鈦白粉,等）;納米材料（如納米粉體材料,納米陶瓷材料等）;稀土,煤炭（粉煤灰）,水泥（礦渣粉）,儲能材料,催化劑（硅藻土）,凈化劑,助濾劑,發(fā)光稀土粉末材料,粉體材料,粉末材料,超細(xì)纖維,多孔織物,復(fù)合材料等粉體和顆粒材料的比表面積及孔徑的檢測分析,廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產(chǎn)企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控.