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　　CFI60-2 經過改進的光學性能 以的高數值孔徑和長工作距離設計理念而著稱的尼康 CFI60 光學系統(tǒng)。經過進一步改進，具有 的長工作距離、色差校正性能和更輕的重量。輕松的操作與數碼相機集成，現可使用數碼控制裝置來檢測包括物鏡信息在內的顯微鏡信息，以及對顯微鏡進行電動操作，以更高效地進行觀察和圖像拍攝。

　　金相顯微鏡由于易于操作、視場較大、價格相對低廉，直到現在仍然是常規(guī)檢驗和研究工作中常使用的儀器.

　　金相學主要指借助光學（金相）顯微鏡和體視顯微鏡等對材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進行分析研究和表征的材料學科分支，既包含材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的樣品制備、準備和取樣方法。其主要反映和表征構成材料的相和組織組成物、晶粒（亦包括可能存在的亞晶）、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷（例如位錯）的數量、形貌、大小、分布、取向、空間排布狀態(tài)等。

　　ECLIPSE LV 系列經過不斷的發(fā)展*并配備了新的光學系統(tǒng)和功能，可根據觀察方法和目的選擇支架裝置和照明裝置以滿足多種觀察需求。用戶可選擇使用電動和手動操控模式以及反射照明模式和反射／透射組合照明模式以滿足任何應用需求。