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　　X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，可以 測定元素含量。

　　近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。

　　大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

　　Ux-2100 Plus開放式工作曲線

　　符合國標要求(GB/T 3352-2016),如果有特殊需求，使用標準物質制作工作曲線，應對其他樣品的測試。測試條件同樣開放,用于設置對應樣品的測試需求。

　　檢測器直接測定的是元素X射線熒光的強度，而我們關心的是元素的含量。利用X射線熒光的強度與元素含量存在比例關系，我們通過測定已知含量的標準樣品建立工作曲線(安裝工程師設定)，再根據待測樣品的X射線熒光的強度通過計算機自動換算為含量值。

　　X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。