此儀器是用于鑒別和分析各種金屬和合金的組織結構，可廣泛地應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的鑒定；原材料的檢驗或對材料處理后金相組織的研究分析，觀察金屬、硅片等反射標本的表面結構和芯片檢查，也可觀察具有一定反射率的透明標本的表面結構。
53X 正置金相顯微鏡 技術參數:
目鏡：平場目鏡 10X/Φ18 12.5X/Φ15；
10X平場分劃目鏡；
物鏡：消色差物鏡 4X 0.10 15.0；
10X 0.25 11.4；
半平場消色差40X 0.65 0.30；
三目鏡筒：可選配攝影、攝像裝置；
總放大倍數：40X-500X（斜筒系數1X）；
粗微動調焦：調節范圍 15.5mm，微調焦格值 0.002mm；
玻璃工作臺：120mm，大試樣高度：約90mm。
| 型號 | 產品名稱 | 規格 |
| 53X | 正置金相顯微鏡 | 正置式三目四個平場物鏡100—1250倍落射光源 |
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