HXW-01正置金相顯微鏡
型號：LW200-2JT
描述：
具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，由于符合人的日常習慣，因此更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質。大于3 微米小于20微米觀察目標，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。LW300/LW200外置或內置攝相系統可以方便的連接視屏和計算機進行實時和靜動態的圖像觀察、保存和編輯、打印結合各種軟件能進行更專業的金相、測量、互動教學領域的需要。
- 鏡筒：T三目，30度傾斜
- 大視野目鏡：WF10Xф18mm
- 長工作距離平場物鏡：PL5X， PL10X， PLL40X（S）， PL100X（oil）（S）
- 轉換器：四孔
- 總放大倍數：50X-1000X
- 載物臺：尺寸182mmX140mm， 移動范圍 75mmX50mm
- 聚焦鏡：可調式阿貝聚焦鏡NA1.25，孔徑光闌，濾色片座
- 調焦：粗微動同軸，升降范圍35mm，微動格值0.002mm，帶鎖緊和限位裝置
- 光源：反射照明鹵素燈6V20W，亮度可調
- 正交偏光裝置
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