分光密度儀CM-2600D

>>產(chǎn)品簡介

CM-2600D分光密度儀可同時(shí)測定SCI(包含鏡面反射光)包(消除鏡面反射光)技術(shù)的數(shù)字化光澤控制。 僅用1.5秒即可同時(shí)完成SCI與SCE的測定，并通過液晶面板顯示SCI/SCE數(shù)據(jù)，再也不必進(jìn)行頻繁的機(jī)械式的SCI/SCE切換，不僅提高了作業(yè)效率，避免了測定時(shí)的位置偏移而得到準(zhǔn)確、穩(wěn)定的測定數(shù)據(jù)。

>>技術(shù)參數(shù)

1.照明 / 受光光學(xué)系統(tǒng)：d/8 (擴(kuò)散照明，8°方向受光) SCI/SCE同時(shí)測定 (無機(jī)械切換)

(根據(jù)DIN 5033 第七部份、JIS Z 8722的條件C、ISO 7724/1、ASTM E1164)

2.積分球尺寸：Ø52mm

3.分光方法：平面回折光柵

4.測定波長范圍：360nm至740nm

5.測定波長：間隔10nm

6.半值寬度：約10nm

7.反射率測定范圍 0至175%、顯示分解能力;0.01%

8.測定用光源：脈沖氙弧燈3個(gè)

9.測定時(shí)間：約1.5秒 (熒光測定時(shí)：約2秒)

10.小可測間隔SCI/SCE測定時(shí)間3秒 (熒光測定時(shí)：約4秒)

11.測定直徑 / 照明直徑MAV：Ø8mm / Ø11mm

12.觀測光源：A、C、D50、D65、F2、F6、F7、F8、F10、F11、F12

>>華測實(shí)力

1、華測經(jīng)過多年發(fā)展，在造紙、紙品、印刷、包裝以及材料檢測設(shè)備研發(fā)和生產(chǎn)中擁有非常成熟的技術(shù)，產(chǎn)品質(zhì)量有保障。

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