德國菲希爾XAN250高性能X射線熒光法測量儀
高性能X射線熒光測量儀，配有的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
特點
德國菲希爾XAN250高性能X射線熒光法測量儀，具有強大的綜合測量能力
配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析
由下的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位
典型應(yīng)用領(lǐng)域
對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
對有害物質(zhì)進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進行高精度的分析
德國菲希爾XAN250高性能X射線熒光法測量儀用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域
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