X射線熒光測(cè)量?jī)x,電子涂層測(cè)厚儀,用于快速、無損分析黃金和銀合金
特點(diǎn)
- 為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計(jì)
- 配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片,涂層測(cè)厚儀d3,特別適用于貴金屬分析
- 配備高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD),qnix涂層測(cè)厚儀,適用于更復(fù)雜的多元素分析
- 由下至上的測(cè)量方向,涂層測(cè)厚儀原理,可以地實(shí)現(xiàn)樣品定位
典型應(yīng)用領(lǐng)域
- 在珠寶和鐘表行業(yè)中的黃金和貴重金屬分析
- 牙科行業(yè)中的材料合金分析











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