RT-70V是由日本Napson公司推出的桌上型手動四探針電阻率量測設備。它運用四探針電阻率量針對半導體及其他導電材料進行測量，同時根據各種不同的需要，配備了多款不同的測試平臺以便供客戶選擇。
- 整套測量系統由測量主機RT-70V和不用應用的平臺組成
- 測量主機為RT-70V
通過旋鈕調整輸入樣品厚度
主機帶自我測試功能，及自動切換測量檔位功能
- 應用：半導體材料、太陽能電池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)，新材料、功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、Ag納米線等)
導電薄膜(金屬、離子等)，擴散層，硅相關外延材料，離子注入樣品。
- <測試平臺> 可根據實際測量應用從下列平臺中選擇
(1) RG-7C: 自動測量，探頭上下移動
(2) RG-7S: 測量大尺寸樣品，手動移動探頭位置，探頭自動上下移動
(3) TS-7D: 手持式測量探頭
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