法國Phasics 公司的產品基于其波前測量技術，即4 波橫向剪切干涉技術。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增強型改進型哈特曼掩模的基礎之上，這種技術將高分辨率和大動態范圍較好結合在了一起。任何應用下，其都能實現全面、簡便、快速的測量。具有如下技術優勢：
高分辨率的相位圖，高分辨率可達400ｘ300。
具有直接測量高發散光束的能力
消色差，匹配CCD整個探測范圍，用于不同波長光而無需額外校準。
應用方向：
激光束質量分析
自適應光學
光學系統測量
生物成像
熱成像，等離子體表面物理
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