布魯克 Bruker光學輪廓儀 ContourX-200
ContourX-200 光學輪廓儀提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的融合，是同類產品中、最準確、可重復性的非接觸式三維表面計量系統。該計量系統占地面積小，采用更大視場、5MP 數碼攝像頭和全新電動 XY 工作臺，具有的二維/三維高分辨測量能力。ContourX-200 擁有出色的 Z 軸分辨率和精確度，具備布魯克專有白光干涉（WLI）技術廣受業界認可的所有優勢，而且不存在傳統共聚焦顯微鏡和同類普通光學輪廓儀的局限性。
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布魯克Bruker光學輪廓儀ContourX-200ContourX-200光學輪廓儀提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的融合，是同類產品中、最準確、可重復性的非接觸式三維表面計量系統
布魯克 Bruker光學輪廓儀 ContourX-200
ContourX-200 光學輪廓儀提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的融合，是同類產品中、最準確、可重復性的非接觸式三維表面計量系統。該計量系統占地面積小，采用更大視場、5MP 數碼攝像頭和全新電動 XY 工作臺，具有的二維/三維高分辨測量能力。ContourX-200 擁有出色的 Z 軸分辨率和精確度，具備布魯克專有白光干涉（WLI）技術廣受業界認可的所有優勢，而且不存在傳統共聚焦顯微鏡和同類普通光學輪廓儀的局限性。
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