霍爾效應測試系統HEMS

測量包括：

? 遷移率測試

? DC HEMS: 10^6cm2/Vs to 10cm2/Vs


? AC HEMS: 10cm2/Vs to 0.1cm2/Vs

? 載流子濃度測試

? 電阻率測試

? 電阻測量

? 低電阻范圍 1uohm to 1Mohm

? 寬電阻范圍 1uohm to 100Gohm

? 高電阻范圍 1ohm to 100Gohm

? 范德堡法測試范圍

? 霍爾巴法測試



磁帽:

? 可更換帽

? 標準25mm

? 在0-130mm間距連續可調

? 更大帽直徑可選,50mm,75mm



電磁鐵:

? ±2.5T@100mmgapwith25mmpoleface

? ±35V, ±70A電源

? 磁場>±IT@25mmpolegap

? 線圈電阻: 0.5 ? (20°C)

? 水冷

溫度選項:

? 低溫 3K-300K

? 高溫300K-1273K

納米磁學高斯計:

? 磁場掃描采用集成高斯計

? 磁場校準采用霍爾探頭

? 高靈敏度的磁場測量

? 所有參數可通過軟件控制





樣品架:

? 4,6 or8范德堡或霍爾巴測試設計

? 易于樣品安裝與彈簧連接

? 5mmx5mm樣品大小(提供更大選件)

? 多個樣品安裝





控制器和軟件:

? 使用我們軟件可逐層的進行遷移率分析

? 基于C# 的全自動軟件分析

? 非常寬的溫度測試范圍,3-1,300K

? 采用高斯計進行磁場的控制

? 非常容易的進行范德堡霍爾巴方法樣品測試

? 提供軟件終生升