測角儀側傾法結構：

其主要特點：

1.2θ平面與ψ平面相垂直；

2.使入射線與線陣探測器的垂直平分線關于ψ平面對稱分布；

3.對于不同的材料、靶材和衍射角，需要改變2θ范圍時，采用步進電機、鋼帶傳動，同步地、對稱地改變X射線管和探測器的位置，維持正確的側傾法衍射幾何布置。

探測器：

瑞士DECTRIS公司的微帶X射線探測器（Microstrip X-ray Detectors）。該探測器的接收部分由640硅微帶組成，每條硅微帶的寬度為50μm，能夠靈敏地接收達到一定能量閾值的單個X光子，實現所謂的無噪聲單光子計數，并且具有抗輻射、免維護和無限壽命的特點。

技術參數：

• 測量方法，其特點如下：

• 正確的側傾法（或稱為χ法、ψ測角儀，基本免除吸收因子影響）。

• 允許設置多個正負ψ角和φ角進行測試測試（解決織構材料應力測試、三維應力測試問題）。

• 擺動法（解決粗晶材料的應力測試問題）。

• 殘余奧氏體含量測定。

• 被測材料：適合于鐵素體型、奧氏體型鋼、鋁、鈦、鎳，和金、銀、鉑等貴金屬，以及氧化鋯等陶瓷材料。

• X射線管：Cr、Cu、Mn靶材。

• 高壓電源：功率30kV×10mA。

• 探測器：硅微帶線陣探測器（無噪聲單光子計數，抗輻射、免維護和無限壽命）。640通道。覆蓋范圍24°。

• 2θ范圍：117°～170°，2θ分辨率0.0375°。

• ψ角范圍：±60°。

• 準直管：內徑為?0.5mm、?1mm、?1.5mm、?2mm、?3mm計5個規格，可以更換。

• 測試點定位：采用激光定位器。

• X射線管冷卻系統：封閉恒溫循環水箱。

• 輻射：在儀器工作狀態，防護罩之外輻射劑量等同于大氣本底，無防護的條件下，2米之外的輻射劑量等同于大氣本底。

• 電源：2000W，220V，50Hz。