CETR-Apex微納壓痕劃痕測試儀
| 型號：CETR-Apex | 品牌： 布魯克 |
CETR-Apex 微納壓痕劃痕檢測
性能**，操作簡易的多功能機械性能測試儀
布魯克多功能的納米機械測試儀平臺，CETR-Apex，配備了6個易互換的機械壓頭,高放大倍數的顯微鏡和成像模塊(AFM和三維光學輪廓儀)。2分鐘內即可實現不同模塊之間的互換。
六種機械壓頭
納米壓痕壓頭—用來測量超薄涂層尤其是納米級涂層以及塊體材料的硬度,楊氏模量等（樣品表面需較為光滑，以確保數據可靠性，)
納米劃痕壓頭—主要用于納米級超薄涂層的厚度測量(DLC,ALD、太陽能薄膜,ITO薄膜和光學涂層等)
微米壓痕壓頭 —儀器的微米壓痕壓頭用于較厚涂層和塊體材料的硬度和楊氏模量等機械性能測量。
微米劃痕壓頭—主要用于較厚涂層的微米級劃痕測量(PVD,CVD、油漆、裝飾涂料等)。
毫米劃痕壓頭 —用于宏觀尺度的劃痕測量。
納米、微米級摩擦學壓頭 —用于薄膜、涂層以及塊體材料的摩擦磨損測量、靜態/動態摩擦學測量、耐用度、附著力，粘滑性等機械性能測量。
CETR-Apex檢測特性 & 技術優勢
配備隔熱罩、隔音罩以及防震臺
三板電容傳感以超高精確度檢測樣品摩擦學性質的變化
微納壓痕檢測信息圖案化，信息完整全面，檢測效率高，重復性好
用戶自定義數據分析算法或分析模型，精確檢測材料機械性能
符合ASTM, DIN和ISO的所有檢測標準
劃痕測試選項
自定義劃痕軌跡（鋸齒形、線形、螺旋形、旋轉形）
自動聚焦顯微鏡可實現自動劃痕
全景成像，可以觀測到整個溝槽的信息
可同時獲得劃痕的完整圖像以及摩擦學、聲學發射信號、溝槽深度、材料力度等各種機械性能信息
改進操作窗口，包括：整幅圖像的縮進、拉出、采集圖像和分析數據同步顯示
納米摩擦磨損測試選項
可隨意更換線性或旋轉驅動
可以自定義選擇測試環境的溫度、濕度及氣體濃度
任意選擇從極低到的測試速度
超低負載——精確控制負載、測試速度和樣品定位，所得測試數據具有的重復性
＊＊技術傳感器滿足X、Y和Z軸同時驅動進行摩擦磨損測試
進行摩擦、磨損、粘滯力、粘滑性等多種測試
納米模塊 NH
隨著納米科技和薄膜技術的發展（太陽能電池，cvd、pvd、dlc、MEMS等），納米尺度的機械性能測試趨向標準化。納米機械性能測試在傳統測試基礎上有了很大改進，通過設計高寬徑比的探針測試更深更窄的溝槽，還實現低負載，高空間分辨以及原位負載-位移數據精確測量。
納米壓痕 — 參照ISO14577認證標準，選取單點/多點壓痕來測量薄膜、涂層和塊體材料的硬度、楊氏模量、張力、應力（馮米塞斯應力，von Mises stresses）和接觸強度/剛度等。
納米劃痕 – 在接觸模式下，可根據用戶自定義不斷增加負載，檢測薄膜、涂層和塊體材料的劃痕硬度和劃痕黏附力。
動態壓痕 - 通過探針動態測量方法，檢測深度依賴性損失以及存儲模量。
NH特性
電磁驅動傳感器
三板電容傳感以超高精確度檢測樣品摩擦學性質變化
針尖幾何形狀為berkovich、球體、或者立方隅角的壓痕檢測器
微納壓痕檢測信息圖案化，信息完整全面
可選擇線性成像（推薦AFM功能）
檢測效率高，重復性好
可選擇*的原位傳感器
配備隔熱罩、隔音罩以及防震臺
符合ASTM, DIN和ISO的所有檢測標準
微米模塊 MH
微米機械性能測試已經被應用于檢測涂層和塊體材料的各種機械性能。微米機械性能測試儀大大優于傳統測試方法，可以實現原位負載數據精確替換、應用類似聲學發射檢測、ECR、摩擦檢測等信號來獲得更多機械性能信息。
儀器化微米壓痕檢測——參照ISO14577認證標準，在毫米尺度（應用超過2牛的負載）以及微米尺度（低于2牛的負載）下檢測涂層和塊體材料的硬度、楊氏模量、張力、應力（馮米塞斯應力，von Mises stresses）和接觸強度/剛度等。
傳統維氏硬度和努普硬度 參照ASTM E384.99認證標準，測量微米尺度的材料硬度。
微米劃痕 —在接觸的模式下，可根據用戶自定義不斷增加負載，檢測薄膜、涂層和塊體材料的劃痕硬度和劃痕黏附力。
MH特性
電磁驅動傳感器
三板電容傳感以超高精確度檢測位移
針尖幾何形狀為berkovich、球體、或立方隅角的壓痕檢測器
微納壓痕檢測信息圖案化，信息完整全面
可選擇線性成像(推薦3D輪廓儀)
檢測效率高，重復性好
選擇*的原位傳感器
用戶自定義數據分析算法或分析模型，精確檢測材料機械性能
符合 ASTM, DIN和ISO的所有檢測標準
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