LED壽命測試系統
針對LED進行壽命測試，設備硬件依據LM-80標準測試方法開發設計，符合LM-80測試要求。該系統可精確設定高低溫環境，使LED暴露在高溫環境下，同時又精確控制LED結溫，使LED在高溫條件下老化，加速其光度衰減。并可根據不同時間節點的測試數據，推算出LED的壽命。系統設計極為人性化，LED老化設備方便與積分球系統對接測量，有效的提高測量效率。
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針對LED進行壽命測試，設備硬件依據LM-80標準測試方法開發設計，符合LM-80測試要求。該系統可精確設定高...
LED壽命測試系統
針對LED進行壽命測試，設備硬件依據LM-80標準測試方法開發設計，符合LM-80測試要求。該系統可精確設定高低溫環境，使LED暴露在高溫環境下，同時又精確控制LED結溫，使LED在高溫條件下老化，加速其光度衰減。并可根據不同時間節點的測試數據，推算出LED的壽命。系統設計極為人性化，LED老化設備方便與積分球系統對接測量，有效的提高測量效率。
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