產品信息

特點

? 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量
? 測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準
? 采用新的探測器，可以進行廣動態范圍的測量
? 測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從φ250毫米到φ3000毫米都能對應
? 支持LIV測量，脈沖點測量，樣品溫度測量
? 兼容脈沖寬度調制（PWM）調光

對應總光通量測量的所有要求

全光束測量系統總括

評價項目

? 總光通量[JISC7801：2009/JISC8152：2007]
? 光譜總輻射通量（光譜）
? 顏色匹配標準差（SDCM）
? 色度坐標（U，V）[CIE1960UCS]
? 色度坐標（X，Y）[JISZ8724：1997]
? 色度坐標（U'V'）[CIE1976UCS]
? 相關色溫與Duv[JISZ8725：1999]
? 主波長（Dominant）和激發純度（Purity）[JISZ8701：1999]
? 顯色評價數（RA，R1?R15）[JISZ8726：1990]

仕　様

HM系列

特點

? 可以改變光源的照明方向，因此可在實際使用條件下進行測量
? 排除積分空間以外的發光部件，消除吸收誤差
? 積分空間的一半亮度（靈敏度）為兩倍
? 適用于表面發射光源的總光通量測量
? 樣品溫度調節方便，因為除了發光表面外，它可以放置在整體半球外面
（也對應高功率光源）
? 可消除樣品光源本身陰影的影響，是測量大樣品的理想選擇
（可對應積分球直徑的1/3）

系統構成圖

各種各樣的積分半球

HM系列

特點

? 與整體半球形規格一樣，可以測量2400mm的直管光源
? 使用帶輔助燈泡的積分球，可補正自我吸收

系統配置圖

大塚相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100 日本OTSUKA大塚相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備RETS-1江蘇蘇州南京太倉安徽蕪湖合肥浙江杭州常州常熟蘇州古尾谷有售強勢供應有技術支持

蘇州古尾谷電子有限公司 代理銷售 直供各類工業品 陳小姐

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