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飛秒激光剝蝕進樣系統

產品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準
  • 產品型號:J200 LA
  • 品牌:
  • 產品類別:其他
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2024-05-03 11:16:43
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其他

  • 經營模式:其他
  • 商鋪產品:162條
  • 所在地區:
  • 注冊時間:2015-05-23
  • 最近登錄:2024-05-03
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產品簡介

簡要描述:美國ASI J200 LA飛秒激光剝蝕進樣系統與等離子體質譜連用,組成LA-ICP-MS系統,對樣品的元素組成、元素分布進行檢測。可與市面上的普通四級桿質譜儀、飛行時間質譜儀和多接收質譜儀等常見質譜儀聯用。

詳情介紹
品牌其他品牌應用領域化工,石油,地礦,能源,航天

一、簡介

美國ASI J200 LA飛秒激光剝蝕進樣系統與等離子體質譜連用,組成LA-ICP-MS系統,對樣品的元素組成、元素分布進行檢測。可與市面上的普通四級桿質譜儀、飛行時間質譜儀和多接收質譜儀等常見質譜儀聯用。

二、J200 LA飛秒激光剝蝕進樣系統技術優勢

  • Q開關,短脈沖Nd:YAG激光器,擁有各種不同波長、不同能量的飛秒或納秒激光器,可根據您的實際應用需求進行選購
  • 創新的模塊化系統為獨立的LA,LIBS,或LA–LIBS復合系統的配置設計
  • 系統傳感器,確保激光剝蝕一致性
    • 高度自動調整技術
    • 激光能量穩定快門
  • 雙攝像機,一個專用于高倍成像,另一個用于樣品表面的廣角觀察
  • 應用光譜Flex樣品室帶有可互換鑲嵌模塊,以優化運輸氣體流量和顆粒沖刷性能
  • 緊湊型微集氣管設計,以消除脫氣和記憶效應
  • 雙路高精度數字質量流量控制器和電子控制閥門
  • 系統軟件
    • 硬件部件的全面控制與測量自動化
    • 多功能取樣方法:全分析、微區&夾雜物分析,深度分析和元素成像
    • 用于LA-ICP-MS和LIBS分析的強大數據分析模塊
  • 維護成本低
  • 升級為LA-LIBS復合系統簡單
    • 用于判別和分類分析的LIBS化學計量軟件
    • 滿足不同分析要求的三種LIBS檢測器選項,LIBS可配置雙檢測器
  • 可升級為飛秒激光剝蝕

三、硬件特點

針對雙重LA/LIBS性能而設計的緊湊、模塊化系統

主體包括激光源、激光束傳輸光學器件、樣品室、氣體流量控制系統。

自動調整樣品高度,保證激光剝蝕的一致性

考慮到樣品表面的形態變化,采用自動調高傳感器。可保持精確的激光聚焦,在所有采樣點上提供相同的激光能量,并在所有采樣點上實現一致的激光剝蝕。

具有可互換鑲嵌模塊的Flex樣品室,以優化氣流和微粒沖洗性能

根據測量目的(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等),有必要對樣品室的各個性能指標進行優化,指標包括:沖洗時間、顆粒混合、樣品室內的流動特性。Flex樣品室的設計能夠容納直徑為4英寸的樣品,使用一組可互換的頂部和底部鑲嵌塊來調節氣流條件(層流和紊流)和微粒沖洗時間。此外,Flex樣品室的設計是為等離子體光提供一個好的視角,從而保證在激光剝蝕過程中進行靈敏的LIBS檢測。

創新集氣管設計

采用的集氣管設計,限度地減少了脫氣,防止了任何燒蝕顆粒的堆積,并消除記憶效應。容易組裝,便于定期清潔輸氣管道。

高精度氣體流量控制系統

氣體控制系統使用兩個高精度、數字化質量流量控制器(MFC)和電子控制閥,用于氬氣、氦氣及補充氣體的輸送,并精確控制氣流,防止等離子體火焰熄滅。預設配置可以選擇輸送氬氣、氦氣或補充氣體。

氣體流量控制系統

通過雙攝像頭和照明實現樣品可視化

擁有照明系統和高倍光學變焦(高達60X)功能,清晰呈現樣品的表面細節。配備雙高分辨率CMOS成像攝像機,提供廣角視野和高倍成像,以精確地研究精細區域(見下圖)。廣角視野視圖可以保存,并用于定位不同的樣品位置,使用高倍鏡研究樣品。

具有三種獨立的照明模式,提高圖像質量和對比度:擴散式LED光源,透射光和同軸反射光,光的強度和顏色可控。

清晰、高倍放大的樣品表面圖像

同軸光線不同顏色和強度下的樣本圖像對比

三種LIBS檢測器可選,擴展了儀器功能

三種不同LIBS檢測器可選:(1)帶有ICCD攝像機的掃描Czerny Turner光譜儀;(2) 配備ICCD攝像機的中階梯光柵光譜儀;(3)同步六通道CCD光譜儀。做為獨立的LIBS儀器系統,可同時配備任意兩種檢測器。雙檢測器開辟了新的LIBS檢測功能。

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