THICK800A特性:
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操作簡單且性價比高。
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自下而上進行測量,從而快速、簡便地定位樣品
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廣泛適用:為各個行業的典型需求量身定制了多種型號
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以非破壞性方式進行鍍層厚度測量與元素分析
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帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機型,可對極薄鍍層及微量成分進行測量
THICK800A應用:
鍍層厚度測量
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厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層
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時尚首飾:對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統進行分析
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抗磨損鍍層,如:對化學鎳鍍層的厚度及磷含量進行測量
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測試納米級基礎金屬化層(凸點下金屬化層,UBM)
THICK800A材料分析
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測定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度
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專業實驗室、檢測機構以及科研院校中常規材料分析
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依據 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準則,檢測電子元件、包裝以及消費品中不合要求的物質(例如重金屬)
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功能性鍍層的成分,如測定化學鎳中的磷含量
專業生產鍍層測厚儀,ROHS檢測儀,氣相色譜質譜聯用儀,電感耦合等離子體發射光譜儀,ROHS分析儀,X射線鍍層測厚儀,,ROHS測量儀,液相色譜儀,ROHS2.0分析儀,XRF,X熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測儀, ROHS檢測儀器,手持式合金分析儀等,涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A,GCMS6800,ICP2060T,,ICPMS2000等。
鍍層測厚儀展廳












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