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THICK800A特性

• 借助高性能 X 射線管和高靈敏鍍的硅漂移探測器 (SDD)，可對超薄鍍層進行測量

• 極為堅固的結(jié)構(gòu)支持長時間批量測試，具有的穩(wěn)定性

• 擁有大測量距離的XDV-μ LD型（小12mm）

• 配備氦氣充填的XDV-μ LEAD FRAME型儀器可測量的元素范圍更廣—從Na（11）到鈾（92）

• 的多毛細管X射線透鏡技術(shù)，可將 X射線聚焦在極小的測量面上

• 通過可編程XY工作臺與Z軸（可選）實現(xiàn)自動化的批量測試

• 憑借視頻圖像與激光點定位，快速、地測量產(chǎn)品

THICK800A應(yīng)用：

THICK800A鍍層厚度測量

• 抗磨損鍍層，如極小的手表元件上的 NiP鍍層

• 機械手表機芯中可見部件上非常薄的貴金屬涂層

• 測量已布元器件線路板

• 測量納米級厚度的金屬化層（凸點下金屬化層，UBM）

• C4 以及更小的焊接凸點測量（Solder Bump）

THICK800A材料分析

• 依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準則，檢測電子元件、包裝以及消費品中不合要求的物質(zhì)（例如重金屬）

• 功能性鍍層的成分，如測定化學(xué)鎳中的磷含量

• 分析黃金和其他貴金屬及其制成的合金

• 分析銅柱上的無鉛焊料凸點（Solder Bump）

• 測試半導(dǎo)體行業(yè)中 C4 以及更小的焊接凸點（Solder Bump）

專業(yè)生產(chǎn)鍍層測厚儀，ROHS檢測儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測厚儀，，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。

鍍層測厚儀展廳