THICK800A特性
-
借助高性能 X 射線管和高靈敏鍍的硅漂移探測器 (SDD),可對超薄鍍層進行測量
-
極為堅固的結(jié)構(gòu)支持長時間批量測試,具有的穩(wěn)定性
-
擁有大測量距離的XDV-μ LD型(小12mm)
-
配備氦氣充填的XDV-μ LEAD FRAME型儀器可測量的元素范圍更廣—從Na(11)到鈾(92)
-
的多毛細管X射線透鏡技術(shù),可將 X射線聚焦在極小的測量面上
-
通過可編程XY工作臺與Z軸(可選)實現(xiàn)自動化的批量測試
-
憑借視頻圖像與激光點定位,快速、地測量產(chǎn)品
THICK800A應(yīng)用:
THICK800A鍍層厚度測量
-
抗磨損鍍層,如極小的手表元件上的 NiP鍍層
-
機械手表機芯中可見部件上非常薄的貴金屬涂層
-
測量已布元器件線路板
-
測量納米級厚度的金屬化層(凸點下金屬化層,UBM)
-
C4 以及更小的焊接凸點測量(Solder Bump)
THICK800A材料分析
-
依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準則,檢測電子元件、包裝以及消費品中不合要求的物質(zhì)(例如重金屬)
-
功能性鍍層的成分,如測定化學(xué)鎳中的磷含量
-
分析黃金和其他貴金屬及其制成的合金
-
分析銅柱上的無鉛焊料凸點(Solder Bump)
-
測試半導(dǎo)體行業(yè)中 C4 以及更小的焊接凸點(Solder Bump)
專業(yè)生產(chǎn)鍍層測厚儀,ROHS檢測儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀,X射線鍍層測厚儀,,ROHS測量儀,液相色譜儀,ROHS2.0分析儀,XRF,X熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測儀, ROHS檢測儀器,手持式合金分析儀等,涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A,GCMS6800,ICP2060T,,ICPMS2000等。
鍍層測厚儀展廳












所有評論僅代表網(wǎng)友意見,與本站立場無關(guān)。