該款光譜測金儀XF-S7是西凡儀器2020全新款，一款可以測戒指內圈成分的貴金屬檢測儀，自主研發生產的X射線熒光光譜檢測儀之一，是一款配置的全元素檢測儀。它配備了進口Fast SDD探測器擁有十多項研發，性能突出，采用進口Fast SDD探測器，搭載ARM Cortex-A53四核處理器，Linux操作系統。

光譜測金儀XF-S7的主要參數：

核心特征：可測戒指內圈+高精確度±0.01%

精確度: ±0.01%

整機分辨率：130±5eV

探測器： 進口Fast SDD探測器

適用溫度： -11~46℃

規格尺寸：467×370×336(mm)

樣品腔：310×248×124(mm)

主體結構：高強度金屬支架+鋁合金外殼

電腦操作系統：ARM 四核+Linux

熱敏打印機：支持

天平/密度儀：支持

電池支持：否

樣品可視：支持（鉛玻璃）

電壓： 100V～240V

額定功率：150W

重量：40公斤