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上海艾時(shí)微技術(shù)開發(fā)有限公司

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白光干涉儀Profilm3D

產(chǎn)品二維碼
參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號:
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:半導(dǎo)體設(shè)備
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時(shí)間:2024-07-02 10:09:32
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  • 經(jīng)營模式:其他
  • 商鋪產(chǎn)品:39條
  • 所在地區(qū):
  • 注冊時(shí)間:2024-07-02
  • 最近登錄:2024-07-02
  • 聯(lián)系人:王先生
  • 電    話:16621050624
產(chǎn)品簡介

結(jié)合垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟(jì)型非接觸式光學(xué)輪廓儀

詳情介紹

一、簡介

Profilm3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟(jì)型光學(xué)輪廓儀,其可以用于多種用途的高精度表面測量。

搜狗截圖20220309233035.png

Profilm3D光學(xué)輪廓儀具有以下優(yōu)點(diǎn):

      ?   價(jià)格優(yōu)勢:市場上性價(jià)比很高的白光干涉輪廓儀,具備價(jià)格優(yōu)勢的高精度輪廓儀;

      ?   快速測量大面積區(qū)域:測量范圍為毫米級別,配置XY樣品臺(tái)達(dá)100mm×100mm,可實(shí)現(xiàn)大面積樣品的輕松測量;

?   簡單易用:只需將樣品放置于樣品臺(tái)上,即可直接進(jìn)行測量;

?   可以測量非接觸式非平坦樣品:由于光學(xué)輪廓測量法是一種非接觸式技術(shù),可以輕松測量彎曲和其他非平面表面。還輕松地測量曲面的表面光潔度,紋理和粗糙度。除此之外,作為一種非接觸式方法光學(xué)輪廓儀不會(huì)像探針式輪廓儀那樣損壞柔軟的薄膜。

?   無需更換耗材:只需要一個(gè)LED光源,無需其他配件更換;

?   可視化3D功能:Profilm 3D輪廓儀具有強(qiáng)大的處理軟件,軟件除包括表面粗糙度,形狀和臺(tái)階高度的測量外,還可以任意角度移動(dòng)樣品量測三維圖形,多角度分析樣品圖像。

適用于各類樣品:Profilm 3D輪廓儀適用于各類金屬、非晶硅和多晶硅、陶瓷材料、電介質(zhì)、硬質(zhì)涂層、高分子聚合物、光刻膠等的表面輪廓及粗糙度等測量。

 

Profilm3D光學(xué)輪廓儀功能:

?   用于測量粗糙度

使用Profilm 3D輪廓儀可以以秒為單位測量表面紋理,光潔度和粗糙度,只需單擊鼠標(biāo)即可完成。Profilm3D采用白光干涉測量(WLI)和相移干涉測量(PSI)等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù),可快速測量大面積2D區(qū)域的粗糙度和紋理,無需接觸樣品。

?   測量曲面樣品

由于Profilm 3D是一種非接觸式技術(shù),因此可以輕松測量彎曲和其他非平面表面。另外在測量方法中添加形狀去除(也稱為形狀去除)和過濾,即可輕松實(shí)現(xiàn)表面光潔度,紋理和粗糙度的測量!

?   任何粗糙度參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)

Profilm 3D擁有47個(gè)ASME / EUR / ISO粗糙度參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)。可以在結(jié)果中顯示其中的任何一個(gè)或全部,從而使自定義報(bào)告變得輕而易舉。符合ISO 9000ASME B46.1標(biāo)準(zhǔn),ISO現(xiàn)在支持測量表面粗糙度的光學(xué)方法。特別是,ISO 25178604部分描述了Profilm3DWLI方法(其中也稱為相干掃描干涉測量法)。

二、主要功能

l  主要應(yīng)用

臺(tái)階高度

表面粗糙度

線寬及輪廓

l  技術(shù)能力

厚度范圍,VSI  50nm-100mm

厚度范圍,PSI  0-3 µm

樣品反射率范圍 0.05%-99%

Piezo范圍 500 µm

XY平臺(tái)范圍100mm × 100mm(可選200×200mm

三、應(yīng)用

臺(tái)階高度、表面形貌、表面粗糙度、大面積拼接等


搜狗截圖20220309233003.png


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