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主　要　特　色：
適用于 5 吋及 6 吋太陽能芯片
高產(chǎn)能及 0.2% 以下之低破片率
2D 幾何計(jì)算檢測(cè)
芯片表面瑕疵檢測(cè)
微裂隙檢測(cè)
鋸痕檢測(cè)
Resistively/Thickness 測(cè)試
壽命測(cè)試
簡易的疑難解答程序
進(jìn)料 : 堆棧盒 / 卡式盒
分類 : 堆棧盒 / 卡式盒

Chroma 3710整合了2D 幾何計(jì)算、表面瑕疵、微裂隙檢查、鋸痕檢查等光學(xué)檢測(cè)功能，并依客戶需求制定Thickness檢查及Lifetime測(cè)試，是一套可針對(duì)使用者客制化的太陽能晶片檢測(cè)系統(tǒng)。具有高產(chǎn)能及低破片率的優(yōu)點(diǎn)，非常適合用于進(jìn)料端，晶片可依使用者定義自動(dòng)分類到堆疊盒或卡式盒內(nèi)，的自動(dòng)轉(zhuǎn)換技術(shù)可以大量節(jié)省人工轉(zhuǎn)換所需的系統(tǒng)待轉(zhuǎn)時(shí)間，并應(yīng)用高科技化的技術(shù)，確保太陽能晶片輸送系統(tǒng)中重要關(guān)鍵之一的低破片率