賽默飛Axia ChemiSEM 智能型鎢燈絲掃描電鏡

【產品描述】
新一體化鎢燈絲掃描電鏡 Axia ChemiSEM，該儀器將微區成分分析與電鏡成像集成在同一平臺上，快速提供所需微觀形貌及實時成分信息，幫助學術和工業用戶快速獲得全面、可靠的數據，準確執行故障分析和缺陷檢測。

Axia ChemiSEM主要技術參數及特點：

?通用型 SEM系統，可涵蓋多種類型樣品?？煞治鼋^緣材料、處理大而重（達10 kg）的樣品，同時能夠分析常規的小尺寸樣品。

?靈活性 SEM系統，支持各類功能附件。

?使用便捷，不依賴于用戶操作水平、能夠便捷提供元素或化學信息。

?高度自動化，自動對中技術確保系統始終處于工作狀態，用戶指南及撤銷功能幫助用戶更輕松操作系統。

?處理效率高：實時定量成分分析成像，更快獲得定量分析數據。

?分辨率：3nm@30kV，8nm@3kV

賽默飛Axia ChemiSEM鎢燈絲掃描電鏡信息由蘇州方勝達電子科技有限公司為您提供，如您想了解更多關于賽默飛Axia ChemiSEM鎢燈絲掃描電鏡報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。

注：對于科研類產品，請先查證核實企業經營資質和科研產品注冊證情況

【特點與應用】
實時成分信息：同步掃描獲取多種信號時執行能譜分析，實時檢測形貌與元素信息；
成像平臺即時可用：只需關注數據采集，不必憂慮電鏡條件設置；
更快獲得數據：多種成像和掃描策略，優化圖像采集效果并提升系統處理能力；
靈活的樣品臺設計：全開門式設計，大樣品可輕松加載到樣品倉內，zui大樣品10 kg；
zhuo越的成像性能：提供低真空模式和電子束減速模式用于消除荷電效應。

【技術參數】
發射源：預對中鎢燈絲

分辨率：
高真空成像
3.0 nm@ 30 kV（SE）；8.0 nm@ 3 kV（SE）
高真空下減速模式
7.0 nm@ 3 kV（BSE）
低真空成像
3.0 nm@ 30 kV（SE）；4.0 nm@ 3 kV（BSE）；10 nm@ 3 kV（SE）

放大倍數：5 ~ 1,000,000×（寶麗來相紙放大）

加速電壓范圍：200 V ~ 30 kV

探針電流范圍：高可達到2 μA，連續可調

低真空范圍：高達150 Pa

X-Ray工作距離：10 mm，EDS檢出角：35°

樣品室：內寬280 mm，端口10個

樣品臺：五軸全自動馬達驅動
X=120 mm,
Y=120 mm,
Z=55 mm,
T=-15o~90o,
R=360o（連續旋轉）
樣品尺寸 240 x 280 x 128 mm3
樣品承重 10 kg

探測器系統：
高真空二次電子探測器ETD
可伸縮式背散射探測器BSED
樣品室內紅外相機CCD
圖像導航彩色光學相機Nav-Cam+™
具有ChemiSEM技術的TrueSight X EDS探測器

控制系統：
操作系統：Windows 10
圖像顯示：24寸LCD顯示器，zui高顯示分辨率1920×1200
支持用戶自定義的GUI，可同時實時顯示四幅圖像
軟件支持Undo和Redo功能

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售后服務

· 免費上門安裝：是

· 保修期：1年

· 是否可延長保修期：是

· 保內維修承諾：24小時響應

· 報修承諾：24小時響應維修

· 免費儀器保養：定期問詢保養售后

· 免費培訓：免費培訓

· 現場技術咨詢：有