全新的硅漂移探測器（SDD）設計能提高分析鎘和鉛等RoHS物質的準確度和速度。新優化的x射線照射方法可提高分析不平坦和不規則表面的可重現性。此外，高性能探測器能提高計數率，增加探測痕量元素的精密度，并且實現測量較輕元素的能力。為了確保生產率，將黃銅中鎘的篩查（通常是XRF RoHS篩查中挑戰性的一項）功能設計成比傳統型號速度更快，從而大幅提高通量。該軟件的一項內置功能可直觀標記超出預設濃度限制的預定義元素。使用精密度控制軟件的EA1400一旦達到預定義參數將自動停止分析。可在預定義測量時間之前確定合格/失敗情況，由此可增加測量多件樣本的通量，從而節省時間且不會影響質量計劃。除了RoHS篩查，EA1400也能夠辨別礦渣（硅、鈣、鋁和鎂）、聚合物、礦物、化學品和其他材料中的主要成分。

簡化RoHS篩查

這款的有害物質分析儀專為在制造廠中發揮關鍵作用而設計，以符合指令要求。EA1400臺式XRF光譜儀采用的檢測技術和創新的x射線光學設計，用于快速篩查RoHS物質。EA1400助力客戶進行所需的篩查，以加快和簡化生產環境中的RoHS檢測，并允許客戶隨指令變化更新物質控制標準。

全新的硅漂移探測器（SDD）設計能提高分析鎘和鉛等RoHS物質的準確度和速度。新優化的x射線照射方法可提高分析不平坦和不規則表面的可重現性。此外，高性能探測器能提高計數率，增加探測痕量元素的精密度，并且實現測量較輕元素的能力。為了確保生產率，將黃銅中鎘的篩查（通常是XRF RoHS篩查中挑戰性的一項）功能設計成比傳統型號速度更快，從而大幅提高通量。

該軟件的一項內置功能可直觀標記超出預設濃度限制的預定義元素。使用精密度控制軟件的EA1400一旦達到預定義參數將自動停止分析。可在預定義測量時間之前確定合格/失敗情況，由此可增加測量多件樣本的通量，從而節省時間且不會影響質量計劃。

除了RoHS篩查，EA1400也能夠辨別礦渣（硅、鈣、鋁和鎂）、聚合物、礦物、化學品和其他材料中的主要成分。

日立分析儀器產品經理Ashley-Kate McCann表示：“客戶需要我們幫助其縮短測量每件樣品的時間、簡化測量結果管理、減少操作失誤、提高效率。EA1400在滿足此類客戶需求的同時還能實現更高的檢出限，且可為當前和未來不斷變化的RoHS和其他限制物質指令提供一種篩查工具。"

探測器：SSD（無需液氮）

元素范圍：Al（11）至U（92）

樣品狀態：固體/粉末/液體

測量面積：1 mmφ、3 mmφ、5 mmφ（電動切換）

樣品艙：寬304×深304×高110毫米

過濾器：4款，5種模式，自動切換

樣品觀察：CCD全彩攝像機

操作：臺式機電腦