產品簡介
產品概述PRODUCTOVERVIEW01產品特點PRODUCTFEATURES臺式X熒光光譜儀真空型能量色散X熒光光譜儀：臺式X熒光光譜儀能量色散X熒光光譜儀融合經驗系數法、基本參數法（FP法）等分析方法，測試數據的準確性能得到全面保證
詳情介紹
臺式X熒光光譜儀真空型能量色散X熒光光譜儀：
臺式X熒光光譜儀能量色散X熒光光譜儀融合經驗系數法、基本參數法（FP法）等分析方法，測試數據的準確性能得到全面保證。
臺式X熒光光譜儀能量色散X熒光光譜儀經驗系數法：儀器依據對標準樣品的測定，確定影響系數。對標準樣品要求高，需和待測樣品類型相近，校正模型簡單。
臺式X熒光光譜儀能量色散X熒光光譜儀 基本參數法（FP法）：儀器根據實際檢測物質，通過對多種物理量建模計算確定參數。對標準樣品要求不高，計算較復雜，適合缺少對應標樣的物質檢測。
軟件功能
元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%
采用BG內標校正，提高非定性式樣測量精度
用戶自定義多曲線多光譜擬和分析方法
全自動定量分析報告 簡捷準確
自適應初試化校正
光譜的自動獲取和顯示。
具有自動檢測儀器工作狀態的功能。
自動判別樣品及自動分析。提供擴展接口，進一步作其他元素分析，從鈣到鈾元素。
硬件
美國進口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統
美國SPELLMAN高壓發生器
美國進口前置放大器，與美國進口探測器兼容性好
美國進口主放大器，與美國進口探測器兼容性好
美國進口AD轉換模塊，與美國進口探測器兼容性好
尺寸＆重量
550（W）×450(D)×450(H)mm
60Kg（主機部分）
電源與環境要求
電源：220V±10％ 50Hz
環境溫度：10℃-28℃
環境濕度: ≤70 ％RH(25℃室溫)
無損檢測
在無標準樣品時亦可準確分析
測量時間比化學方法短，不需要輔助材料
計算機進行數據處理，分析快速準確
高分辨率圖形即時顯示，由不同色塊加以判斷區分
硅半導體探測器
元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%
采用BG內標校正，提高非定性式樣測量精度
全自動定量分析報告 簡捷準確
自適應初試化校正
光譜的自動獲取和顯示
具有自動檢測儀器工作狀態的功能
自動判別樣品及自動分析
儀器型號 | EDX-9000 |
檢出下限 | 1ppm |
分析元素范圍 | Na(11)—U(92)任意元素 |
真空系統 | 真空 |
樣品類型 | 固體/粉末/液體 |
X射線管 | Mo/W/Ag/Rh等靶材可選 |
管電壓 | 5—50kV |
管電流 | 1—1000uA |
內腔尺寸 | 150* 150* 100mm |
準直器 | 2、4、4、8mm |
探測器 | SDD探測器 |
ADC | 2048道 |
濾光片 | 6種濾光片自動選擇并自動轉換 |
樣品觀察 | 130萬彩色CCD攝像機 |
分析軟件及方法 | 軟件產品，升級，理論alpha 系數法、基本參數法、經驗系數法 |
工作環境 | 溫度10-35℃，濕度30-70%RH |
外形尺寸及重量 | 600(W)×500(D)×500(H)mm 60kg |
外形尺寸 | 600*500*500mm（W*D*H） |
重量 | 60kg |
外部供電要求 | AC220±10% |
供電頻率 | 50/60Hz |
測試樣品時間 | 0－300秒可調 |
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