金相切片分析顯微鏡/明暗視場PCB線路板專用，金相切片分析儀
ADL3230BD正置明暗視場透反射金相顯微鏡是一種多用途工業檢驗用光學儀器，配置明/暗場物鏡、大視野目鏡與偏光觀察裝置，透反射照明采用“柯勒"照明系統，視場清晰。可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業試樣的檢驗，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子工程學等研究的理想儀器.
性能特點
▲ 采用無限遠光學系統及模塊化功能設計。
▲ 長工作距離明/暗視場平場物鏡，視場大而清晰。
▲ 廣角平場目鏡：視場直徑Ф22mm。
▲ 粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。
▲ 內置式可切換偏光觀察裝置，起偏器可360°旋轉。
▲ 上光源采用翻蓋式12V50W鹵素燈箱，更換燈炮安全便捷，下光源采用12V30W鹵素燈，加裝散熱片。
▲ 三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時可99%通光，適合暗視場顯微圖像拍攝。
放大倍數可選擇5X,10X,20X,40X,50X,60X,80X,100X物鏡
配300萬像素或500萬像素CCD攝像頭,校準尺0.1mm/格,惠普或聯想電腦一臺（含17尺顯示器）
標準配置
型號
| ADL3230BD
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目鏡
| 大視野WF10X(視場數Φ22mm), 帶分劃目鏡和分劃尺,格值0.1mm/格
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物鏡
| 無限遠長工作距離平場消色差明/暗視場物鏡（無蓋玻片)
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PL L5X/0.12 B.D工作距離(Work distance)：9.7 mm
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PL L10X/0.25 B.D工作距離(Work distance)：9.3 mm
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PL L20X/0.40 B.D工作距離(Work distance)：7.2 mm
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PL L40X/0.60 B.D工作距離(Work distance)：3.0 mm
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| PL L60X/0.70 B.D工作距離(Work distance)：3.18 mm
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目鏡筒
| 三目鏡,傾斜30 0 8,(內置檢偏振片,可進行切換),
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落射照明系統
| 12V 50W鹵素燈,亮度與燈炮位置可調
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內置視場光闌、孔徑光闌、濾色片轉換裝置，推拉式檢偏器與起偏器
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調焦機構
| 粗微動同軸調焦,微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置
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轉換器
| 五孔(內向式滾珠內定位)
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載物臺
| 雙層機械移動式(尺寸:210mmX140mm,移動范圍:75mmX50mm)
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藍濾色片和磨砂玻璃,12V 30W,亮度可調
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集光器，鹵素燈照明適用(內置視場光欄)
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12V 30W鹵素燈,亮度可調
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