大范圍掃描開爾文探針系統

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　　這款大范圍掃描開爾文探針系統幫助用戶可以訪問從50mm到350mm的樣品的二維和三維功函數圖。掃描開爾文探針的功函數分辨率為1-3meV，探針直徑的空間分辨率為0.05mm，可對功函數、接觸電位差和伏特電位進行可靠、可重復的測量。

大范圍掃描開爾文探針系統可以選配高性能的光學/法拉第外殼屏蔽外殼，使其免受不必要的快速變化的環境條件、電磁干擾，并為我們的環境壓力光電發射光譜和表面光電壓附加模塊提供了的平臺。

大范圍掃描開爾文探針系統特色

　　用開爾文探針測量功函數

　　1-3mev的功函數分辨率

　　掃描范圍從50毫米到300毫米

　　掃描分辨率等于針尖直徑

　　自動高度調節

大范圍掃描開爾文探針系統應用

　　防腐，碳鋼，薄膜，太陽能電池，氧化鉬，氧化鋅納米線薄膜，量子點，空穴傳輸，納米顆粒，石墨烯，有機發光二極管。

大范圍掃描開爾文探針掃描結果

型號	SKP5050	ASKP100100	ASKP200250	ASKP350350
Tip material / diameter	Standard 2 mm gold tip (0.05 mm available on request)
Work function resolution	1 - 3 meV
Sample scan size	50 x 50 mm	100 x 100 mm	200 x 250 mm	350 x 350 mm
3D sample area	Square	Square	Square	Square and circular
Height control (auto)	25 mm	50 mm	50 mm	50 mm
Visualisation	3D map of surface potential
Optical system	Colour camera with zoom lens and monitor
Oscilloscope	Digital TFT oscilloscope for real time signal
Test sample	Gold and aluminium test sample
Faraday enclosure base	450 x 450 mm	300 x 300 mm	450 x 450 mm	450 x 600 mm
Control supplied	PC control with dedicated software for full control of all parameters
Detection system	Off-null with parasitic capacity rejection
Warranty	Twelve months