冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱可測(cè)試溫，及低溫，常溫等溫度條件快速?zèng)_擊或高溫到低溫、低溫到高溫、低溫到常溫、高溫到常溫、常溫到高溫、常溫到低溫等各種溫度條件快速循環(huán)沖擊。測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),測(cè)試產(chǎn)品在不同溫度沖擊下使用時(shí)的可靠性能。可做產(chǎn)品質(zhì)量篩選。
冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法：
GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；
GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2423.22-2002溫度變化
QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則
EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估
冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱用于測(cè)試電子，電子產(chǎn)品，電子元器件，塑膠電子，五金電子，手機(jī)，電腦，，航空，航天，高分子材料，化工涂料，橡膠，汽車，LED，LCD，PCB，F(xiàn)PC，電路板，線路板，光伏組件，太陽(yáng)能組件，光纖，LED顯示器，LED照明，LED模組，LCD液晶屏等產(chǎn)品及材料。
所有評(píng)論僅代表網(wǎng)友意見(jiàn)，與本站立場(chǎng)無(wú)關(guān)。