

LAP-W2000H激光粒度分析儀主要性能特點:
★光路設計:LAP-W2000H采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在zui短的焦距獲得zui大量
程,有效提高儀器的分辨能力;高密度探測單元,讓LAP-W2000H擁有了小顆粒測試
能力,高密度探測單元使 LAP-W2000H 具有全量程無縫測試能力,高配版采用了雙光路設計。
★防塵、防震設計:儀器整體進行了密封設計,大幅提高了內部元器件使用壽命。懸浮式
結構能有效避免外界震動對儀器的干擾,使結果測試準確。
★雙光路雙激光器:LAP-W2000H高配版采用了雙光路多鏡頭設計,主光采用高穩定、長壽命的
進口光纖半導體激光器,輔光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器(λ=635nm, p>5mW)。
★自動對中:采用機械中心與光學中心相結合技術,光路自動調整定位準確,達到微米級別;
同時光路調整速度個更快捷zui快15秒即可完成調整。自行研制的自動對中系統包括步進電機、
導軌、控制器以及軟件系統組成,zui小步距0.2微米,保證激光束焦點始終從探測器中心點
穿過,提高測試結果的準確性以及測試的重復性。自動對中系統是耐克特所有型號激光粒度儀的標準
配置。
★微量循環系統:整個分散循環系統進行了優化設計,分散介質大于180毫升即可循環測試,
真正達到了微量循環測試;所有接頭采用了速插快擰設計,短時間內即可更換全部管道;優化的設計
保證排水后無廢夜殘留,保證了下一次測試結果的準確性。
★超寬量程:LAP-W2000H量程達到了0.01μm~2000μm。
★超聲防干燒:LAP-W2000H配備了 100W 大功率超聲,同時具有超聲防干燒功能。
★誤操作保護:LAP-W2000H具有自我保護功能,對一些會損害儀器的誤操作不響應,大大降低
了因人為誤操作造成的損壞。
★露點測量:樣品窗結霧會影響測量的準確性,這樣的測試結果沒有實際意義,LAP-W2000H加
裝了有霧點測量系統,一旦起霧軟件會自動提示。
★免排氣泡設計:設計使整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗,避免了氣泡干擾(免
排氣泡功能技術我們擁有)。
★樣品不殘留設計:儀器管道及排水結構進行了優化設計,儀器管道、循環泵內無積液殘留,避
免對下一次測試數據的影響;干法測試同樣進行了不殘留設計。
★樣品窗快換裝置:設計的樣品窗快換裝置,使樣品窗更換更方便快捷(20秒鐘即可完成樣
品窗的拆裝過程)。













所有評論僅代表網友意見,與本站立場無關。