XP-350系列高精度偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校zui常用的專業實驗儀器。高精度偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影。高精度偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業以及藥品檢驗等領域。
成像系統簡介：
XP-350V/XP
技術參數:
| 平場目鏡 | 放大倍數（X） | 視場（mm） | ||
| 10X | Φ22 | |||
| 10X十字目鏡 | Φ20 | |||
| 平場消 色差物鏡 | 放大倍數（X） | 數值孔徑（NA） | 工作距離（mm） | |
| 4X | 0.10 | 7.18 | ||
| 10X | 0.25 | 4.70 | ||
| 40X | 0.65 | 0.72 | ||
| 60X | 0.85 | 0.18 | ||
| 光學放大倍數 | 40X 100X 400X 600X | |||
| 偏光系統 | 1, 起偏鏡：振動方向360°可調，帶鎖緊裝置，可移動光路 2, 檢偏鏡：可移出光路，旋轉范圍90°，內置勃氏鏡，中心可調 | |||
| 照明系統 | 6V/20W（鹵素燈） ，亮度可調. | |||
| 補償器 | 石膏λ片，云母λ/4片，石英契子 | |||
| 調焦系統 | 帶限位和調節松緊裝置，微動格值為 | |||
| 濾色片 | 藍色 磨砂玻璃 | |||
儀器選購件: 1.物鏡:20X 2.偏光分析軟件（BT-PG2000） 3. 二維測量軟件（BT-2000M）
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