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ruker Multimode 8 DI 第八代多功能掃描探針顯微鏡

-高分辨掃描探針顯微鏡的
-搭配快速自動掃描成像技術
-功能更完善，表現更

MultiMode平臺是世界上應用泛的掃描探針顯微鏡（SPM），已經在成功安裝使用了近萬套。它的成功基于其的高分辨率和高性能，的多功能性，以及已經得到充分證實的效率和可靠性。現在，MultiMode掃描探針顯微鏡以其的ScanAsyst模式，采用其的自動圖像優化技術，使得用戶無論具備什么技能水平，也能在材料科學，生命科學，聚合物研究領域的研究中最迅速地獲得符合要求的研究成果。?SPM的控制電路也是影響性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有的數字架構：具有高數據帶寬，低噪聲數據采集和的數據處理能力。布魯克的的技術已經開創工業上的新標準，例如：ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。Multimode 的加熱和制冷裝置能對樣品進行加熱與制冷，適合于生物學，聚合物材料以及其他材料研究應用。采用加熱和制冷裝置后MULTIMODE 可在零下35°C到250 °C范圍內對樣品進行溫度控制；并可以在水，溶液或緩沖劑的液體環境中進行掃描。當在氣體環境下對樣品進行掃描時，采用環境控制艙可以在大氣壓標準下控制環境氣體的成分。

一、技術參數：

1.顯微鏡：多種可選Multimode SPM掃描頭?
AS-0.5 scanner – 0.4μm x 0.4μm XY and 0.4μm Z range;
AS-12 scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (非垂直下針)
AS-12VLR scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (垂直下針)
AS-130VLR scanner – 125μm x 125μm XY and 5μm Z range (垂直下針) 
AS-12NM scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (非垂直下針) 
AS-130NM scanner – 125μm x 125μm XY and 5μm Z range (非垂直下針) 
PicoForce scanner – 40μm x 40μm XY and 20μm Z range,針對 Z 方向閉環力譜應用 
MMAFMXYZ – 100μm x 10μm XY and 15μm Z range XYZ三方向閉環，不推薦在液相中使用

2. 噪聲：垂直(Z)方向上的RMS值＜0.3埃 （帶防震系統的測量值）
3. 樣品大小：直徑≤15mm, 厚度≤5mm
4. 針尖/懸臂支架：
● 空氣中輕敲模式/接觸模式(標準)
● 液體中輕敲模式/力調制(可選) 
● 空氣中力調制(可選)；
● 電場模式(可選)
● 掃描熱(可選-需要大的光學頭或者外加的應用組件)
● STM轉換器(可選)
● 低電流STM轉換器(可選)；接觸模式液體池(可選)
● 電化學AFM或STM液體池(可選)
● 扭轉共振模式(可選)
5. 防震和隔音：
● 硅膠共振模式(可選)
● 防震三腳架(可選) ；
● 防震臺(可選) 
● 集成的防震臺和隔音罩(可選)

二、主要特點：

1. 高的分辨率
2. 出眾的掃描能力
3. 優異的可操作性
?4. 非凡的靈活性與功能性
5. 無限的應用擴展性 Multimode可以實現全面的SPM表面表征技術，包括：
● 輕敲模式(Tapping Mode AFM)
● 接觸模式(Contact Mode AFM)
● 自動成像模式(ScanAsyst)
● 相位成像模式(Phase Imaging)
● 橫向力術模式(laterial Force Microscopy, LFM)
● 磁場力顯微術(Magnetic Force Microscopy, MFM)
● 掃描隧道顯微術(Scanning Tunneling Microscopy, STM)
● 力調制(Force Modulation)
● ?電場力顯微術(Electric Force Microscopy, EFM)
● 掃描電容掃描術(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)
● 表面電勢顯微術(Surface Potential Microscopy)
● 力曲線和力陣列測量(Force-Distance and Force Volume Measurement)
● 納米壓痕/劃痕(Nanoindenting/Scratching)
● 電化學顯微術(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)
● 皮牛力譜(PicoForce Force Spectroscopy)
● 隧道原子力顯微術(Tunneling AFM, TUNA)
● 導電原子力顯微術(Conductive AFM, CAFM)
● 掃描擴散電阻顯微術(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)
● 扭轉共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)
● 壓電響應模式(Piezo Respnance mode, PR mode)
● 其他更多模式....