無論使用者是否在工作生產或研究，三維光學表面計量萊卡DCM8共聚焦顯微鏡，需要優化材料的性能。為了幫助用戶實現工作的大效率，萊卡DCM 8結合了高清晰度共聚焦顯微鏡帶著干涉測量變成一個多才多藝的雙核系統。超快分析這要歸功于一鍵模式選擇，復雜的軟件和高清共焦。
用戶所觀察的表面是否有陡峭的斜坡或復雜的形狀？用HD共焦顯微鏡可獲得2 nm的垂直分辨率。樣品表面是否光滑，有微小的山峰和山谷？萊卡DCM8從垂直掃描干涉(VSI)、相移干涉(PSI)或擴展PSI(EPSi)三種干涉方式中選擇，分辨率可達0.1nm。如果用戶需要一個快速、清晰的高清2D圖像，萊卡DCM 8提供亮場和暗場模式，為用戶帶來全新的體驗。
除此之外，萊卡 DCM 8采用了創新的高清微顯示器掃描技術。由于傳感器頭中沒有移動部件，保證了快速和可重復的數據捕獲。集成高清CCD相機有一個大視場，允許更多的樣品表面一次分析。獲得更大面積的無縫的模型，只需選擇超快的XY地形拼接模式即可。
三維光學表面計量萊卡DCM8共聚焦顯微鏡
徠卡DCM8共聚焦顯微鏡通過結合出色的光學與高清CCD相機，加上紅色，綠色，藍色和白色LED光源，萊卡DCM 8提供令人印象深刻的高清彩色圖像。脈沖LED順序允許真實的顏色信息被記錄在每個像素中。因此，分辨率和對比度增加了樣品的強制-清晰可視化。
萊卡DCM 8是可配置的，以匹配用戶的應用。從反射表面，到透明層以下的表面，到需要較大工作距離的樣品-萊卡DCM8顯微鏡有用戶需要的優質目標。對于大樣本，選擇從徠卡顯微鏡的范圍內的可調柱和機動階段。此外，該系統采用4種不同顏色的LED，允許用戶選擇合適的波長為用戶所需的材料進行觀察。
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