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測量顯微鏡 15J/15JE(數顯型)

? 用途：

測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，主要用途如下：
1. 直角座標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔圓直徑等等。
2. 轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3. 用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等 .
二、規格：

三、測量工作臺讀數裝置主要規格
x 軸移動測量范圍： 50 毫米
y 軸移動測量范圍： 13 毫米
數顯分辯率： 0.001 毫米
測量臺轉動范圍： 不限
測量臺刻度盤分度范圍：　 0° - 360°
測量臺刻度盤之分度值： 1°
測量臺刻度盤游標讀數示值： 6'
照明方式：反射光 ( 自然光 )
測量精度：儀器值誤差 (5+L/15) 微米