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硅片粗糙度測(cè)試儀用途：

    用于太陽(yáng)能硅片粗糙度的測(cè)量，已有客戶為公元太陽(yáng)能，煜輝陽(yáng)光，鑫友光伏，雙鴿新能源等

硅片粗糙度測(cè)試儀

平移范圍 17.5mm （ 5" ）
測(cè)量范圍 350μm （ ±150μm ） [12000μinch （ ±6000μinch ） ]
驅(qū)動(dòng) / 檢測(cè)元件 探測(cè)儀 :178-390/178-395
測(cè)頭 : 金剛石
測(cè)量力 :4mN/0.75mN
探測(cè)方式 : 微感應(yīng)
評(píng)定輪廓 P , R
估計(jì)參數(shù) Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,P3z,mr
數(shù)字過(guò)濾 2CR-75%,2CR-75% PC,Gaussian-50%
截至 λC 0.25,0.8,2.5mm
波長(zhǎng) λS 2.5,8μm
取樣長(zhǎng)度（ L ） 0.25,0.8,2.5mm
顯示 ：彩色 LCD
打印機(jī)：外置
數(shù)據(jù)輸出 通過(guò) RS232C 接口 /SPC 輸出
電源通過(guò) AC 適配器 / 電池（可充電）
尺寸 62×156.5×52mm
重量 0.48kg