布魯克藝術與考古分析儀——手持式XRF，科研、教學、藝術、考古界的理想選擇! 由于其*的應用靈活性，布魯克Tracer系列XRF(X射線熒光）分析儀已經成為藝術品和考古研究事實上的標準。Tracer系列也是科學研究和教學的中意之選，用于對非均勻物質的研究以及培訓新的X射線熒光分析領域的科學家。該系統即可用于實驗室，也可用于野外現場，并可通過PC或PDA控制。 在藝術和考古學領域，布魯克藝術與考古分析儀廣泛地適合于各種各樣的應用，如確定具有文化價值對象的起源，或為地球化學調查獲取元素信息 它通常是一件關鍵的工具，用于支持認證，建立物源等。 對于藝術品保存與修復，Tracer系列能夠可靠、靈敏地確定元素成分，確保采取適當的處理方案，Tracer系列既可以找出類似匹配的顏料與其它物質，也可以檢驗之前所做的保存工作。 汞、砷以及鉛等的氧化物，過去常被博物館用于保護藏品，但是Tracer系列則可以對這些有毒重金屬進行分析，確保按照NAGPRA1 的規定安全歸還文物。 對于科研與教學，Tracer系列在激發參數方面擁有zui大限度的靈活性和透明性，讓學生可以親身體會改變XRF激發參數將如何影響分析結果。 關于Tracer系列為何成為藝術品保護科學家的標準配置，原因有許多。我們對Tracer進行了以用戶為導向的創新，使其即擁有臺式的、實驗室品質質檢儀器的*功能和應用的靈活性，又擁有手持式設備的便捷性，方便使用。 具備臺式儀器的功能，同時具有手持式分析儀的便利性 基于筆記本的分析軟件，功能* 自定義濾光片與二級靶材，優化分析 (Tracer III型) 實時譜線顯示 技術設計，可檢測鎂、鋁、硅、硫、磷以及氯等輕元素 專有XFlash SDD技術，增加計數率，提高分辨率（Tracer-SD 型） 與NASA聯合研發的真空技術，令對輕元素的靈敏度達到極限 售后支持員工知識豐富、樂于幫助用戶。