泰勒SURTRONIC DUO粗糙度儀
型號：SURTRONIC DUO
探頭系統：探頭系統
表面粗糙度測量范圍：199μm，40μm
掃描路徑：5mm
表面粗糙度分辨率：μm
閾值波長： mm
數據傳輸類型：USB
技術指標：
| 量 程： | 200um | |
| 行 程： | 5mm | |
| 取樣長度： | mm+/-15% | |
| 參 數： | Ra： | |
| Ra： | ||
| 精 度： | Ra: | |
| Rz: | ||
| 檢測方式： | 壓電式 | |
| 尺 寸： | 125*80*38mm | |
| 重 量： | 200g |
應用：
用戶友好的移動粗糙度測量裝置，用于參數Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的標準粗糙度測量。
執行：
“彩色液晶顯示屏，zui多顯示4個測量值
拆分顯示和進紙單元
兩臺機器之間的藍牙連接（zui大距離2米）
粗糙度參數符合DIN ISO和ASME標準
顯示主要輪廓/參數Pa，Pz，Pp，Pv和Pt
集成滑蓋式探頭，金剛石為5μm
可以通過迷你USB端口充電
優點：
InstantOn，從待機模式到測量模式只需5秒鐘
操作簡單直觀，無需培訓
測量值保存到下次測量為止
電池壽命每次充電可達3000次測量
： 陳經理
座機：
公司郵箱:ldxyiqi@
網站：
地??址：廣東深圳市龍崗區平湖捷威工業園3號樓武漢大學產學研基地5樓506
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